УДК |
Аннотация: Описаны основные преобразования кубического представления систем булевых функций, являющиеся основой алгоритмов построения тестов программируемых логических матриц. Изложены методы обнаружения и поиска неисправностей программируемых логических матриц комбинационного типа и матриц с памятью, основанные на учете специфики структуры больших интегральных микросхем. Большое внимание уделяется вопросам сокращения перебора при увеличении кратности рассматриваемых неисправностей. Существенной особенностью материала является его ориентация на автоматизацию разработки тестов и процессов тестирования. Описана программная система ТЕСТ ПЛМ, представляющая собой комплекс программ на проблемно-ориентированном языке ЛЯПАС-М. Описаны алгоритмы обладающие полнотой контроля кратных неисправностей программируемых логических матриц. Применение системы ТЕСТ ПМК позволяет расширить область применения программируемых логических матриц. Для научных работников, специализирующихся в области проектирования и производства элементов и устройств электронной техники.
Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Доп.точки доступа:
Волынский, М.Б.; Новоселов, В.Г.
Экземпляры всего: 1
ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИВМ-Фонд (1)