Сводный каталог книг

: пер. с англ. / ред. пер. Т. П. Каминская ; пер.: С. А. Иванов, К. И. Домкин. - М. : БИНОМ. Лаб. знаний, 2013. - 582 с. : ил. + 25 см. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. - Авт. указаны на с. 5-8. - Пер. изд. : Scanning microscopy for nanotechnology. Techniques and applications / Zhou, ed. Weili Zhou, Lin Wang, ed. Zhong Lin Wang. - 2006. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 1320.00 р., 1320.00 р., 1265.00 р.
    Содержание:
Основы растровой электронной микроскопии

ГРНТИ	29.35.43	29.19.22
УДК	621.3	681.54

ББК В338.48 + Ж36-1с + Ж607с

Аннотация: Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанобъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.

Content,
Содержание,
Глава 1

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Каминская, Т. П. \ред. пер.\; Иванов, С. А. \пер.\; Домкин, К. И. \пер.\; Weili Zhou, ed.; Zhong Lin Wang, ed.
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (2)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (2)

[Текст] : учебное пособие / В. В. Старостин ; ред. Л. Н. Патрикеев. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2008. - 431 с. : ил. - (Нанотехнология). - Библиогр.: с. 424-426. - ISBN 978-5-94774-727-0 : 237.00 р., 237.00 р.

ГРНТИ	81.13
УДК	62-022.53(075.8)^V3	681.54

ББК Ж6я73

Аннотация: В книге даются основные понятия о нанотехнологии и нанообъектах, приводятся сведения о характерных особенностях и свойствах наночастиц. Рассмотрены функциональные и конструкционные материалы (фуллерены, углеродные нанотрубки, ленгмюровские молекулярные пленки) и их применение. Значительное внимание уделяется методам получения наночастиц и упорядоченных наноструктур, приводятся результаты искусственного наноформообразования, описаны методы зондовой нанотехнологии, пучковые и другие новые методы нанолитографии. Для студентов и аспирантов вузов, специализирующихся по направлению "Нанотехнология".

Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Патрикеев, Л.Н. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1)