Содержание:
Дисперсия и светосила
Высокодисперсионное ренгенографирование поликристаллических образцов
Естественная ширина рентгеновских спектральных линий и электронных уровней в атоме
Структурность спектральных Kα1, Kα2 линий и ее обнаружение
ГРНТИ |
Рубрики:
Рентгеноструктурный анализ
Рентгеноструктурный анализ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Киевский государственный университет им. Т. Г. Шевченко
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)