Сводный каталог книг

/ А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2011. - 413 с. ; 22 см. - Библиогр.: с. 409-413. - 1000 экз. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 768.00 р., 768.00 р.

ГРНТИ	90.27	29.19.22	29.31.26	90.03.03
УДК	62-022.53:006^V3

ББК Ж10 + В371.26в642 + Ж10в734

Аннотация: Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)

[Текст] : Учебное пособие для вузов по направлению "Метрология, стандартизация и сертификация" и специальности "Метрология и метрол. обеспечение" / А.Г. Сергеев, М.В. Латышев, В.В. Терегеря. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Логос, 2004. - 560 с. : ил. - (Новая университетская библиотека). - Библиогр.: с. 557-559. - ISBN 5-94010-341-3 : 224.00 р.ББК Ж10я73 + Ж.ц.я73 + Х623.211.130.032.12я73

Аннотация: Освещается научное, методическое и организационное обеспечение работ в области метрологии, стандартизации и сертификации. Рассмотрены методы и средства достижения требуемой точности и единства измерений, организации метрологического обеспечения производства, разработки и применения стандартов в практической деятельности инженеров и менеджеров. Раскрыты положения Федерального закона "О техническом регулировании" и других нормативных документов. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению "Метрология, стандартизация и сертификация" и по специальности "Метрология и метрологическое обеспечение". Может использоваться в учебном процессе по широкому кругу специальностей и направлений техники и технологии. Представляет интерес для аспирантов и специалистов в области управления качеством.

Держатели документа:
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Латышев, Михаил Владимирович; Терегеря, Владимир Васильевич
Экземпляры всего: 1
ИВМ-ЧЗ (1)
Свободны: ИВМ-ЧЗ (1)

[Текст] : учеб. пособие вузов, по направлению "Метрология, стандартизация и сертификация" и специальности "Метрология и метрол. обеспечение" / А. Г. Сергеев, М. В. Латышев, В. В. Терегеря. - [Изд. 2-е, перераб. и доп.]. - М. : Логос, 2004. - 558, [1] с. : ил + 22 см. - Библиогр. в конце кн. (57 назв.). - ISBN 5-94010-341-3 : 224.00 р.

ГРНТИ	90
УДК	006

ББК Ж10я73-1 + Ж.ц.я73-1 + У9(2)301-823.2-44я73-1

Аннотация: В книге рассмотрены методы и средства достижения требуемой точности и единства измерений, организации метрологического обеспечения производства, разработки и применения стандартов в практической деятельности инженеров и менеджеров.


Доп.точки доступа:
Латышев, М.В.; Терегеря, В.В.
Экземпляры всего: 1
ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИХХТ-АБ (1)