Сводный каталог книг

: учеб. пособие для вузов / Я. С. Уманский. - М. : Металлургия, 1969. - 496 с. : рис., фот. - Библиогр.: с. 473-478. - 10500 экз. - 1.33 р.
    Содержание:
Физика рентгеновских лучей
Источники рентгеновских лучей и аппараты γ-дефектоскопии
Детекторы рентгеновских лучей
Структурный анализ, основные уравнения дифракции рентгеновских лучей от кристаллов и общая характеристика методов структурного анализа
Элементы рентгеноанализа монокристаллов
Методы рентгеноанализа поликристаллических веществ
Рентгеноанализ преимущественных ориентировок (текстур)
Рентгенографическое определение деформации решетки и размеров кристаллитов. Рентгеноанализ структурных изменений при нагреве деформированных кристаллических тел
Рентгеноанализ сплавов
Рентгеноанализ структурных изменений, вызываемых термической обработкой сплавов и воздействием ионизирующего излучения
Применение дифракции электронов и нейтронов для изучения структуры сплавов
Основные принципы рентгеноспектрального анализа
Радиационная дефектоскопия
Защита от воздействия рентгеновских и гамма-лучей

ГРНТИ

29.19.19

53.49.19

ББК К204.013я73 + Ж.с38я73 + К206.331я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

/ Я. С. Уманский [и др.]. - М. : Металлургиздат, 1955. - 721 с. : рис., табл. - Загл. обл. : Физическое металловедение . - Библиогр.: с. 705-721. - 24.55 р.

ГРНТИ

53.49

ББК К202я73 + В378я73


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Уманский, Яков Семенович; Финкельштейн, Борис Николаевич; Блантер, Михаил Евсеевич; Кишкин, Сергей Тимофеевич
Экземпляры всего: 1
ИФ-Музей (1)
Свободны: ИФ-Музей (1)

/ Я. С. Уманский, А. К. Трапезников, А. И. Китайгородский. - М. : Машгиз, 1951. - 310 с. : ил. - 1.10 р.

ГРНТИ

29.19.19

53.49.19

ББК К204.013 + Ж.с38 + К206.331


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Трапезников, А. К.; Китайгородский, Александр Исаакович
Экземпляры всего: 1
ИФ-Музей (1)
Свободны: ИФ-Музей (1)

[Текст] / Я. С. Уманский [и др.]. - Москва : Металлургия, 1982. - 631 с. : ил. - Библиогр.: с. 628-631. - (в пер.) : 1.40 р., 1.40 р.
Учебник для вузов по специальности "Физика металлов", "Металловедение, оборудование и технология термической обработки металлов"

ГРНТИ	29.01.33	53.49	53.49.19	53.49.07
УДК	548.73.187(075.8)

ББК В378я73 + К206.22я73 + К204.011я43 + К204.011я73

Аннотация: Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом. Учебник предназначен для студентов металлургических и политехнических вузов, специализирующихся в области металлофизики, металловедения и физико-химических исследований материалов. Может быть полезен инженерам-исследователям, работающим в области физического металловедения и физико-химических исследований, технологии производства и обработки металлических материалов.

Держатели документа:
Центральная научная библиотека КНЦ СО РАН : 660036, г. Красноярск, Академгородок, 50

Доп.точки доступа:
Уманский, Яков Семенович; Скаков, Юрий Александрович; Иванов, Александр Николаевич; Расторгуев, Леонид Николаевич
Экземпляры всего: 2
ЦНБ-ХР (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ЦНБ-ХР (1), ИХХТ-АБ (1)