Сводный каталог книг

/ B. Fultz, J. Howe. - 2nd. ed. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005. - XXI ; 748 p. : il. - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISBN 3-540-43754-9 : 2675.00 р.
Перевод заглавия: Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов
   Перевод заглавия: Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов

ГРНТИ

31.15.15

31.19

29.31.26

81.09.03

ББК Ж3-1 + Г46 + В338.48 + Г512


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Howe, James; Хау, Джеймс; Фульц, Брент
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)

: пер. с англ. / Б. Фульц, Дж. Хау ; пер. В. И. Даниленко ; ред. пер. А. В. Мохова. - М. : Техносфера, 2011. - 903 p. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 805-820 - Предм. указ. - Пер. изд. : Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe. - Berlin; Heidelberg, 2005. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-291-5. - ISBN 978-5-94836-291-5 . - ISBN 978-3-540-43764-2 : 1418.18 р., 1418.18 р.
    Содержание:
Дифракция и рентгеновский порошковый дифрактометр
TEM (Transmission Electron Microscopy) и его оптика
Рассеяние
Неупругое рассеяние электронов и спектроскопия
Дифракция от кристаллов
Электронная дифракция и кристаллография
Дифракционный контраст в изображениях TEM
Формы дифракционных линий
Функции Паттерсона и диффузное рассеяние
Изображения TEM высокого разрешения
Изображения сканирующей TEM высокого разрешения
Динамическая теория

ГРНТИ

31.15.15

31.19

29.31.26

81.09.03

29.19.04

ББК Ж3-1 + Г46 + В338.48 + Г512 + В372.15,07


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс; Даниленко, В. И. \пер.\; Мохова, А. В. \ред. пер.\; Fultz, Brent; Howe, James
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)