Сводный каталог книг

w10=
Найдено документов в текущей БД: 10
   Ж
   Ф 88
Ж10 / Ф 88-ИХХТ-АБ

    Основы метрологии. Современный курс
/ А. Э. Фридман. - СПб. : НПО "Профессионал", 2008. - 280 с. - Библиогр.: с. 277-280. - 1000 экз. - ISBN 978-5-91259-01ё8-4. - ISBN 978-5-91259-018-4 : 1261.00 р., 1261.00 р.
ГРНТИ
ББК Ж10


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИХХТ-АБ (1)
   Ж
   Г 61
Ж30 / Г 61-ИВМ-Фонд

    Наноиндентирование и его возможности
/ Ю. И. Головин. - М. : Машиностроение, 2009. - 312 с. - Библиогр. в конце глав. - 2000 экз. - ISBN 978-5-94275-476-1 : 727.65 р., 727.65 р.
ГРНТИ
УДК
ББК Ж306в642 + В372в642 + К413в642 + Ж306.2-1


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1)
   Ж
   С 32
Ж10 / С 32-ЦНБ-АБ

    Нанометрология
/ А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2011. - 413 с. ; 22 см. - Библиогр.: с. 409-413. - 1000 экз. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 768.00 р., 768.00 р.
ГРНТИ
УДК
ББК Ж10 + В371.26в642 + Ж10в734

Аннотация: Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
   Ж офсетная печать
   А 86

    Поверка и калибровка средств измерений
/ Б.Г. Артемьев, Ю.Е. Лукашов. - М. : Стандартинформ, 2006. - 407 с. - Библиогр.: с. 401-404 (111 назв.). - 1000 экз. - ISBN 5-7050-0483-4 : 2035.00 р.
ГРНТИ
ББК Ж106


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Лукашов, Юрий Евгеньевич
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   Ж
   Т 64
Ж10 / Т 64-ЦНБ-АБ

    Точные измерения для высоких технологий
/ П. А. Красовский [и др.] ; ред. П. А. Красовский. - пос. Менделеево : ВНИИФТРИ, 2008. - 290 с. - Библиогр.: с. 269-273. - 1000 экз. - ISBN 978-5-903232-07-9 (в пер.) : 350.00 р.
Авт. указаны в огл.
ГРНТИ
УДК
ББК Ж104 + Ж10я43

Аннотация: С привлечением обширного исследовательского материала по ряду основных направлений деятельности ВНИИФТРИ - времячастотных, гидроакустических, измерений ионизирующих излучений - показана важность высокоточных измерений для внедрения новых технологий и перевода экономики страны на инновационный путь развития, подчеркнута взаимосвязь между технологическим прогрессом и прорывом в точности измерений.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Красовский, Петр Александрович; Домнин, Ю. С.; Пальчиков, В. Г.; Кауфман, М. Б.; Еняков, А. М.; Абдулов, Р. А.; Генералова, В. В.; Перова, Н. В.; Севастьянов, В. И.; Севастьянов, В. Д.; Кошелев, А. С.; Маслов, Г. Н.; Красовский, Петр Александрович \ред.\
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
   Ж
   Л 66

    Инженерные основы измерений нанометровой точности
: пер. с англ. / Р. Лич ; пер. А. В. Заблоцкий. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamental principles of engineering / Richard K. Leach. - Amsterdam; Boston; Heidelberg, 2010. - ISBN 978-5-91559-119-5 : 1210.00 р.
    Содержание:
Введение в метрологию для микро- и нанотехнологий
Основы метрологии
Принципы разработки прецизионных средств измерений
Прослеживаемость длины при помощи интерферометрии
Измерения перемещений
Средства измерений параметров рельефа поверхности
Сканирующая зондовая, электронная и ионная микроскопия
Характеризация рельефа поверхности
Координатная метрология
Измерения сил и масс
ГРНТИ
ББК Ж10


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Заблоцкий, А. В. \пер.\; Leach, Richard K.
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   К9
   О-62
З 854.3 / О-62-ЦНБ-АБ
З 854.3я43 / О-62-ИБФ-ООН

    Оптико-информационные измерительные и лазерные технологии и системы
: Юбилейный сборник избранных трудов / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Констр.-технол. ин-т науч. приборостр. ; науч. ред. Ю. В. Чугуй ; рец.: Ю. Н. Дубнищев, В. А. Арбузов. - Новосибирск : Гео, 2012. - 456 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ. - 500 экз. - ISBN 978-5-904683-00-9 : 10.00 р., б. ц. р.
ГРНТИ
УДК
ББК К967я43 + З 854.3я43 + К588я43 + З 854.3я43 + К588я43

Аннотация: Книга представляет собой юбилейный сборник избранных статей сотрудников Конструкторско-технологического института научного приборостроения СО РАН, которому в 2012 г. исполнилось 40 лет со дня организации как юридически самостоятельной структуры. В ней собраны оригинальные статьи сотрудников института за последние 10–20 лет. Представленная информация отражает основные направления деятельности института и результаты исследований специалистов КТИ НП СО РАН. Научные результаты, отраженные в публикациях данного сборника, нацелены на создание новых наукоемких измерительных технологий, обеспечивающих повышение безопасности в атомной энергетике, горно-добывающей промышленности и на транспорте, а также на диагностику промышленных объектов для предотвращения техногенных катастроф, на разработку уникальных лазерных обрабатывающих комплексов и измерительных систем для оптико-механической, аэрокосмической и ряда других отраслей страны. Книга представляет интерес для широкого круга специалистов-приборостроителей, ученых других специальностей, с которыми разработчики института многие годы сотрудничают при решении конкретных научных проблем, а также для специалистов различных производственных предприятий страны.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Чугуй, Юрий Васильевич \науч. ред.\; Дубнищев, Юрий Николаевич \рец.\; Арбузов, Виталий Анисифорович \рец.\; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения РАН
Экземпляры всего: 2
ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1), ИБФ-ООН
Свободны: ИФ-КФ (1), ЦНБ-АБ (1)
   Ж
   М 54

    Метрология быстропротекающих процессов
[Текст] : сборник / Всесоюз. науч.-исслед. ин-т физ.-техн. и радиотехн. измерений ; [ред. Б. М. Степанов]. - М. : [б. и.], 1977. - 79 с. : ил. - (Научные труды). - 500 экз. - 0.42 р.
ГРНТИ
ББК Ж10я43


Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Степанов, Б. М. \ред.\; Всесоюзный научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений
Экземпляры всего: 1
ИФ-КФ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1)
   Ж
   Ф 76
Ф762 / Ф 76-ИВМ-Фонд
Ж104 / Ф 76-ИХХТ-АБ

    Отбраковка аномальных результатов измерений
/ А. Ф. Фомин, О. Н. Новоселов, А. В. Плющев. - М. : Энергоатомиздат, 1985. - 200 с. : ил. - Библиогр.: с. 195-198. - 6100 экз. - 0.60 р., 0.60 р., 0.60 р.
ГРНТИ
УДК
ББК Ж104 + З811.72

Аннотация: Изложены вопросы теории и практики отбраковки одиночных и группирующихся аномальных результатов измерений непрерывных процессов при непрерывном и дискретном наблюдении. Приведены примеры алгоритмической и аппаратурной реализации методов отбраковки. Рассмотрена нелинейная фильтрация негауссовских измерительных процессов в негауссовских помехах. Для инженеров и научных работников, занимающихся проектированием и эксплуатацией систем измерений, передачи и обработки информации.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
ИВМ СО РАН : 660036, Красноярск, Академгородок, 50, стр.44

Доп.точки доступа:
Новоселов, Олег Николаевич; Плющев, Арнольд Владимирович
Экземпляры всего: 3
ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1)
Свободны: ИФ-КФ (1), ИВМ-Фонд (1), ИХХТ-АБ (1)
   З22
   М473
З22 / М473-ЦНБ-АБ

    Аппроксимационные методы и системы измерения и контроля параметров периодических сигналов
[Текст] : монография / В.С. Мелентьев, В.И. Батищев. - Москва : Физматлит, 2011. - 239 с. : ил. ; 23 см. - Библиогр.: с. 228-239. - 300 экз. - ISBN 978-5-9221-1353-3 : 380.00 р.
ГРНТИ
УДК
ББК З 22-01в641

Аннотация: В книге рассматриваются методы и средства определения интегральных характеристик периодических сигналов. Разработанные методы, алгоритмы, аппаратные и программные средства построены на принципах аппроксимации сигналов и процессов аналитическими моделями на основе априорной информации о свойствах объектов исследования. Они весьма эффективны при создании контрольно-измерительной аппаратуры для систем автоматизации производственных процессов, а также при решении контрольно-диагностических задач в энергетике и на транспорте. Книга может быть полезна инженерам и научным работникам, занятым разработкой технических средств промышленных измерений, контроля и испытаний, аспирантам и студентам старших курсов.

Полный текст на сайте РФФИ


Доп.точки доступа:
Батищев, Виталий Иванович
Экземпляры всего: 1
ЦНБ-АБ (1)
Свободны: ЦНБ-АБ (1)