Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


База ученого секретаря- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Препринты (7)Электронный каталог книг и продолжающихся изданий (2)Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая) (43)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=EXAFS<.>)
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-12 
1.


    Валеев, Р. Г.
    EXAFS-исследование перспективного полупроводникового материала Ga₂Se₃ [] / Р. Г. Валеев, В. В. Кривенцов, Н. А. Мезенцев // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 9 : Материалы XIX Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2012" и Всероссийской молодежной конференции "Использование синхротронного излучения". - С. 1320-1322

Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ

Доп.точки доступа:
Кривенцов, В.В.; Мезенцев, Н.А.; Национальная конференция по использованию синхротронного излучения (19 ; 25–28 июня 2012 ; Новосибирск); Всероссийская молодежная конференция "Использование синхротронного излучения" (25-28 июня 2012 ; Новосибирск)

Найти похожие

2.


   
    Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al₂O₃ [] / Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сборник тезисов докладов. - Новосибирск : Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013. - С. 268

Перейти к внешнему ресурсу: Сборник тезисов докладов

Доп.точки доступа:
Валеев, Р.Г.; Бельтюков, А.Н.; Кривенцов, В.В.; Мезенцев, Н.А.; Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013 (2 ; 21-25 октября 2013 ; Новосибирск)

Найти похожие

3.


   
    Сравнительное EXAFS исследование полупроводниковых нанокомпозитов различной природы на основе ZnS и ZnSe [] / Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сборник тезисов докладов. - Новосибирск : Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013. - С. 267

Перейти к внешнему ресурсу: Сборник тезисов докладов

Доп.точки доступа:
Валеев, Р.Г.; Бельтюков, А.Н.; Кривенцов, В.В.; Мезенцев, Н.А.; Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013 (2 ; 21-25 октября 2013 ; Новосибирск)

Найти похожие

4.


   
    Исследование локальной структуры тонких нанокомпозитных плёнок и наноструктур на остнове ZnSe и ZNS методом EXAFS / Р. Г. Валеев [и др.] // 13-й Международный симпозиум "Порядок, беспорядок и свойства оксидов", ODPO - 2010, Ростов-на-Дону - п.Лоо, 16 - 21 сентября 2010 г. : труды симпозиума. - Ростов н/Д, 2010. - С. 48


Доп.точки доступа:
Валеев, Р.Г.; Романов, Э.А.; Деев, А.Н.; Мезенцев, Н.А.; Шарафутдинов, М.Р.; Кривенцов, В.В.; Елисеев, А.А.; Международный симпозиум "Порядок, беспорядок и свойства оксидов", ODPO - 2010 (13 ; 16-21 сентября 2010 ; Ростов н/Д / Лоо)

Найти похожие

5.


    Менушенков, А. П.
    EXAFS-спектроскопия квазикристаллов / А. П. Менушенков, Я. В. Ракшун // Кристаллография. - 2007. - T. 52, № 6. - С. 1042-1050. - Библиогр.: 16 назв.

Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ

Доп.точки доступа:
Ракшун, Я.В.

Найти похожие

6.


    Menushenkov, A. P.
    EXAFS spectroscopy of quasicrystals / A. P. Menushenkov, Ya. V. Rakshun // Crystallography Reports. - 2007. - Vol. 52, № 6 : II All-Russia Conference on Quasicrystals, Kurchatov Inst., Russian Res. Ctr, Moscow, Russia, 8-9 June 2006. - P. 1006-1013. - DOI 10.1134/S1063774507060120

Перейти к внешнему ресурсу: Scopus,
Перейти к внешнему ресурсу: Springer

Доп.точки доступа:
Rakshun, Ya.V.; All-Russia Conference on Quasicrystals (2 ; 8-9 June 2006 ; Moscow)

Найти похожие

7.


   
    Исследование короткопериодных CR/SC многослойных зеркал методом EXAFS спектроскопии / Я. В. Ракшун [и др.] // Digest reports of the XVII International Synchrotron Radiation Conference : SR-2008, June 15-20, 2008, Novosibirsk, Russia / ed.: M. V. Kuzin, A. D. Nikolenko. - Novosibirsk : BINP SB RAS, 2008. - P. 7-7

Перейти к внешнему ресурсу: Digest reports

Доп.точки доступа:
Kuzin, M.V. \ed.\; Nikolenko, A.D. \ed.\; Ракшун, Я.В.; Чернов, В.А.; Салащенко, Н.Н.; Чхало, Н.И.; International Synchrotron Radiation Conference : SR-2008 (17 ; June 15-20, 2008 ; Novosibirsk)
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : кх (1)
Свободны: кх (1)

Найти похожие

8.


   
    EXAFS and XPS studies of germanium and gallium arsenide nanostructures in porous aluminum oxide matrices / R. G. Valeev [et al.] // Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. - 2015. - Vol. 79, № 1 : Proceedings of the 20th National Conference on the use of synchrotron radiation “SR-2014” and the National Youth Conference “Using synchrotron radiation” (Novosibirsk, 7-10 July 2014). - P. 144-148. - DOI 10.3103/S1062873815010335. - Bibliogr.: 13 ref.

Перейти к внешнему ресурсу: Scopus,
Перейти к внешнему ресурсу: Полный текст

Доп.точки доступа:
Valeev, R.G.; Beltukov, A.N.; Kriventsov, V.V.; Mezentsev, N.A.; Vetoshkin, V.M.; National Conference on the use of synchrotron radiation “SR-2014” and the National Youth Conference “Using synchrotron radiation” (20 ; 7-10 July 2014 ; Novosibirsk)

Найти похожие

9.


   
    EXAFS- и РФЭС-исследование наноструктур германия и арсенида галлия в матрицах пористого оксида алюминия / Р. Г. Валеев [и др.] // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая. - 2015. - Т. 79, № 1 : Материалы ХХ Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2014" (Новосибирск, 7-10 июля 2014 г.). - С. 160-164. - Библиогр.: 13 назв.

Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ

Доп.точки доступа:
Николенко, А.Д. \ред.\; Валеев, Р.Г.; Бельтюков, А.Н.; Кривенцов, В.В.; Мезенцев, Н.А.; Ветошкин, В.М.; Национальная конференция по использованию синхротронного излучения (20 ; 7-10 июля 2014 ; Новосибирск)

Найти похожие

10.


   
    Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах [Электронный ресурс] / Р. Г. Валеев [и др.] // ХХ Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014", 7-10 июля 2014 г., Новосибирск : книга тезисов. - Новосибирск : ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2014. - С. 106

Перейти к внешнему ресурсу: Книга тезисов

Доп.точки доступа:
Валеев, Р.Г.; Бельтюков, А.Н.; Кривенцов, В.В.; Мезенцев, Н.А.; Национальная конференция по использованию синхротронного излучения (20 ; 7-10 июля 2014 ; Новосибирск)

Найти похожие

 1-10    11-12 
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)