Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска
Авторефераты диссертаций и диссертации
Отечественные журналы
Препринты
Электронный каталог книг и продолжающихся изданий
База ученого секретаря
Пресса об ИЯФ
Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>A=Лич, Ричард$<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж10/Л 66
Автор(ы) : Лич, Ричард
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : [учебное пособие]
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2012
Колич.характеристики :399 с.: ил.; 22 см
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91559-119-5:
ГРНТИ : 59.03.05 + 90.03.03
ББК : Ж104я73
Предметные рубрики: Нанометрология
Аннотация: Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)