Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска
Авторефераты диссертаций и диссертации
Отечественные журналы
Препринты
Электронный каталог книг и продолжающихся изданий
База ученого секретаря
Пресса об ИЯФ
Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)
Область поиска
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая) (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микротехнологии<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Лич Р. Инженерные основы измерений нанометровой точности/Р. Лич. - 2012
2.

Броудай И. Физические основы микротехнологии/И. Броудай, Д. Мерей ; перевод с английского В. А. Володина, В. С. Першенкова и Б. И. Подлепецкого под редакцией А. В. Шальнова. - 1985
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)