Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска
Авторефераты диссертаций и диссертации
Отечественные журналы
Препринты
Электронный каталог книг и продолжающихся изданий
База ученого секретаря
Пресса об ИЯФ
Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)
Область поиска
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая) (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микротехнологии<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : З 844.1/Б 88
Автор(ы) : Броудай, Ивор, Мерей, Джулиус
Заглавие : Физические основы микротехнологии : [монография]
Выходные данные : Москва: Мир, 1985
Колич.характеристики :494 с.: ил.; 22 см.
Перевод издания: Brodie Ivor The physics of microfabrication/ Ivor Brodie, Julius J. Muray. -New York; London, 1982 :
ГРНТИ : 47.03.05
ББК : З 844.1-06
Предметные рубрики: Микротехнология в электрорадиоприборостроении
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж10/Л 66
Автор(ы) : Лич, Ричард
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : [учебное пособие]
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2012
Колич.характеристики :399 с.: ил.; 22 см
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91559-119-5:
ГРНТИ : 59.03.05 + 90.03.03
ББК : Ж104я73
Предметные рубрики: Нанометрология
Аннотация: Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)