Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Отечественные журналы (1)

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая) (5)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроэлектроника<.>)

Общее количество найденных документов : 55
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-55

   В3
   И 46

    Ильин, Вадим Алексеевич.
    Магистральные направления физики XXI века. Физика технологий будущего для будущих физиков и инженеров. Кн. 1. Современная макрофизика. Низкие температуры. Сверхпроводимость. Сверхтекучесть. Лазеры. Зондовая микроскопия. Рентгеновское излучение. Высокие давления. Фуллерены, нанотрубки, графен. Информационные технологии: вчера-сегодня-завтра : [научно-популярное издание] / В. А. Ильин, В. В. Кудрявцев. - Москва : URSS : ЛЕНАНД, 2018. - 442 с. : ил., табл. ; 22 см. - (НАУКУ - ВСЕМ! Шедевры научно-популярной литературы. Физика ; № 163). - ISBN 978-5-9710-5292-0 (в пер.)

29.01.39

47.01.11

ББК В3я9 + З 80я9

Кл.слова (ненормированные):
туннельный эффект -- рентгеновская томография -- ЯМР -- транзистор -- интегральные схемы -- микроэлектроника -- гетероструктуры -- сверхпроводниковая электроника -- фотоника -- спинтроника -- биокомпьютеры

Доп.точки доступа:
Кудрявцев, Василий Владимирович
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

   Ч21
   И 71


    Институту автоматики и электрометрии СО РАН 60 лет! / [Шалагин А. М. и др.]. - [Москва : Научтехлитиздат], 2017. - 124 с., [14] л. ил. : ил. ; 30 см. - Текст рус., англ. - Библиогр. в конце ст. - Вып. журн.: История науки и техники. 2017. №5. - 4800 экз.
Примечания о происхождении:
Экз. 69113 : Дар ИАиЭ СО РАН.

12.21.69

ББК Ч214я4

Кл.слова (ненормированные):
оптическая память -- наноструктурные -- лазер -- нелинейная спектроскопия -- плазмон -- волоконная оптика -- интерференционная оптика -- дифракционная оптика -- сегнетоэлектрические структуры -- микроэлектроника -- автоматизация научных исследований

Доп.точки доступа:
Шалагин, А. М.; Суровцев, Н. В.; Малиновский, В. К.
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   З 844.1
   Н 25


    Нано-КМОП-схемы и проектирование на физическом уровне / Б. П. Вонг, А. Миттал, Ю. Цао, Г. Старр ; перевод с английского К. В. Юдинцева ; под редакцией Н. А. Шелепина. - Москва : Техносфера, 2014. - 431 с. : ил. ; 25 см. - (Мир радиоэлектроники). - Пер. изд. : Nano-CMOS circuit and physical design / Ban P. Wong [et al.]. - [S. l.], 2005. - 1000 экз.. - ISBN 978-5-94836-377-6

47.33.31

47.13.07

ББК З 844.15 + З 856
Рубрики: Интегральные схемы большие--Проектирование
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника (исследования) -- микросхемы -- нано-кмоп-схемы -- кмоп-схемы -- кмоп-приборы

Доп.точки доступа:
Вонг, Бан П.; Миттал, Анураг; Цао, Ю.; Старр, Грег; Wong, Ban P. ; Mittal, Anurag; Cao, Yu
Экземпляры всего: 1
Ч/з (1)
Свободны: Ч/з (1)
Найти похожие

   В343
   И 98

    Ищенко, Евгений Федорович.
    Поляризационная оптика : [учебное пособие для вузов по специальности 202000 "Квантовая и оптическая электроника" направления подготовки дипломированных специалистов 654100 "Электроника и микроэлектроника"] / Е. Ф. Ищенко, А. Л. Соколов. - Изд. 2-е, испр. и доп. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2012. - 454 с. : ил. ; 22 см. - 500 экз.. - ISBN 978-5-9221-1351-9 (в пер.)

29.31.15

ББК В343.5я73
Рубрики: Поляризация--Света
Кл.слова (ненормированные):
Электромагнитные волны - Поляризация -- Поляризационные приборы

Доп.точки доступа:
Соколов, Андрей Леонидович
Экземпляры всего: 3
кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие

   З 844.1
   В 24

    Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий : учебное пособие для вузов : в 2 т. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - 2011. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-0.
   Т. 2 : Технологические аспекты / М. В. Акуленок, В. М. Андреев, Д. Г. Громов. - 2011. - 252 с. : ил. ; 21 см. - 790 экз.. - ISBN 978-5-9963-0336-6

47.13

47.33.31

ББК З 844.15-06я73
Рубрики: Микросхемы интегральные--Нанотехнологии--Учебники и учебные пособия
Микроэлектроника--Физические основы--Технология--Учебники и учебные пособия

Доп.точки доступа:
Андреев, В. М.; Громов, Дмитрий Геннадьевич
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   З 842
   А 94

    Афонский, Александр Алексеевич.
    Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под редакцией В. П. Дьяконова. - Москва : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. : ил. ; 21 см. - 300 экз.. - ISBN 978-5-94074-626-3

ББК З 842 + З 856 + З 844.1 + Ж6
Рубрики: микроэлектроника
нанотехнология в электронике
метрология в радиоэлектронике
Кл.слова (ненормированные):
Контрольно-измерительные инструменты и приборы электронные -- нанотехнологии -- нанотехнологии (микроэлектроника) -- микроэлектроника (нанотехнологии) -- микросхемы (радиоэлектроника) -- полупроводники
Аннотация: Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира.

Доп.точки доступа:
Дьяконов, Владимир Павлович; Дьяконов, Владимир Павлович \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   З 854
   П 16

    Панов, Михаил Федорович.
    Физические основы интегральной оптики : [учебное пособие для вузов по направлению подготовки "Электроника и микроэлектроника"] / М. Ф. Панов, А. В. Соломонов, Ю. В. Филатов. - Москва : Академия, 2010. - 426, [1] с. : ил., табл. ; 22 см. - (Высшее профессиональное образование. Радиоэлектроника). - 1500 экз.. - ISBN 978-5-7695-5976-1

ББК З 854я73 + З 845.79я73 + В342.6я73

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- интегральная оптика -- волновая оптика -- электромагнитные волны -- оптическая система -- световод -- интерфененция -- интерферометр -- оптическое излучение -- лазерное излучение -- лазерный гироскоп -- оптоэлектроника

Доп.точки доступа:
Соломонов, Александр Васильевич; Филатов, Юрий Владимирович
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   З 843
   Т 38

    Технология материалов микро-, опто- и наноэлектроники : учебное пособие : в 2 ч. - Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2010. - ISBN 978-5-94774-913-7.
   Ч. 2 / В. М. Рощин, М. В. Силибин. - 181 с. : ил. - ISBN 978-5-94774-910-6

47.09

ББК З 843я73
Рубрики: Микроэлектроника -- пособия
Наноматериалы

Доп.точки доступа:
Рощин, В. М.; Силибин, М. В.
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   З 844.1
   В 24

    Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий : учебное пособие для вузов : в 2 т. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - 2011. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-0.
   Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010. - 392 с. : ил. - ISBN 978-5-9963-0335-9

47.13

47.33.31

ББК З 844.15-06я73
Рубрики: Микроэлектроника--учебное издание для высшей школы
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- гетерогенное фазообразование -- фотохимическое воздействие излучений

Доп.точки доступа:
Райнова, Ю. П.
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

10.

   З 843
   Т 38

    Технология материалов микро-, опто- и наноэлектроники : учебное пособие : в 2 ч. - Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2010. - ISBN 978-5-94774-913-7.
   Ч. 1 / А. А. Раскин, В. К. Прокофьева. - 164 с. : ил. - ISBN 978-5-94774-909-0

47.09

ББК З 843я73
Рубрики: Микроэлектроника -- пособия
Наноматериалы

Доп.точки доступа:
Раскин, Александр Александрович; Прокофьева, Виолетта Константиновна
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-55

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)