Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска
Авторефераты диссертаций и диссертации
Отечественные журналы
Препринты
Электронный каталог книг и продолжающихся изданий
База ученого секретаря
Пресса об ИЯФ
Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Применение синхротронного излучения в структурной химии/[Г. Н. Кулипанов и др. ; редколлегия: Мазалов Л. Н. и др. ; ответственные редакторы выпуска: Б. П. Толочко и др.]. - 2016
2.

Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов/Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; перевод с английского С. Л. Баженова. - 2007
3.

Воронов В. К. Физика на переломе тысячелетий. [Кн. 4]. Физические явления микро- и наномасштаба/В. К. Воронов, А. В. Подоплелов, Р. З. Сагдеев. - 2018
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)