Поисковый запрос: (<.>R=29.19.19$<.>) |
Общее количество найденных документов : 70
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Стожаров В. М. Физика рентгеновского излучения/В. М. Стожаров. - 2022
|
2.
| Колесов Б. А. Прикладная КР-спектроскопия/Б. А. Колесов ; ответственный редактор Н. В. Суровцев. - 2018
|
3.
| International conference on electron, positron, neutron and X-ray scattering under external influences, Yerevan - Meghri, Armenia, 16-22 October 2017/Nat. acad. of sciences of Armenia, Inst. of appl. problems of physics. - 2017
|
4.
| Гарипов Р. М. Алгебраический метод вычисления кристаллографических групп и рентгеноструктурный анализ кристаллов/Р. М. Гарипов. - 2016
|
5.
| Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов/Сибирский центр синхротронного и терагерцового излучения, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, АО ФНПЦ "Алтай", РФЯЦ ВНИИТФ, РФЯЦ ВНИИЭФ. - 2015
|
6.
| Шапиро, Федор Львович Собрание трудов. [Кн. 2]:Нейтронные исследования
|
7.
| Сандомирский С. Г. Расчет и анализ размагничивающего фактора ферромагнитных тел/С. Г. Сандомирский. - 2015
|
8.
| Ищенко А. А. Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества/А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - 2013
|
9.
| Рентгенография катализаторов в контролируемых условиях температуры и среды/[Плясова Л. М., Булавченко О. А., Кардаш Т. Ю. и др.]. - 2011
|
10.
| "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", всероссийская научная конференция(1;2009;Новосибирск). 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов": МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г./Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН [и др.]. - 2009
|
11.
| Школа молодых специалистов "Синхротронное излучение. Дифракция и рассеяние", [Новосибирск], 19-23 октября 2009 г./Сибирское отделение Российской академии наук, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера, Сибирский центр синхротронного и терагерцового излучения. - 2009
|
12.
| Цыбуля С. В. Введение в структурный анализ нанокристаллов/С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова. - 2009
|
13.
| Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения/М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; под редакцией М. М. Криштала. - 2009
|
14.
| Библиографический указатель публикаций сотрудников Сибирского центра синхротронного и терагерцового излучения за 2006 год/Российская академия наук, Сибирское отделение, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН. - 2008
|
15.
| Библиографический указатель публикаций сотрудников Сибирского центра синхротронного и терагерцового излучения за 2007 год/Российская академия наук, Сибирское отделение, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН. - 2008
|
16.
| Фетисов Г. В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ/Г. В. Фетисов. - 2007
|
17.
| Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля/Д. Брандон, У. Каплан. - 2006
|
18.
| Гарипов Р. М. Алгебраический метод вычисления кристаллографических групп и рентгеноструктурный анализ кристаллов/Р. М. Гарипов ; Новосибирский государственный университет. - 2003
|
19.
| Боуэн Д. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография/Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; ответственный редактор И. Л. Шульпина; перевод с английского И. Л. Шульпиной, Т. С. Аргуновой]. - 2002
|
20.
| Горелик С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ/С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - 2002
|
|
|
|
Авторефераты диссертаций и диссертации
Стандартный
Главная
Описание
