Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.19.19$<.>)

Общее количество найденных документов : 70
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-40 41-60 61-70

   В37
   С 81

    Стожаров, Валерий Михайлович.
    Физика рентгеновского излучения : учебное пособие для вузов / В. М. Стожаров. - Санкт-Петербург[и др.] : Лань, 2022. - 98 с. : ил., табл. ; 24 см. - (Высшее образование). - 30 экз.. - ISBN 978-5-8114-8753-0

29.19.19

29.19

29.31.15

ББК В372.13я73 + В371я73 + В346я73

Аннотация: В первой главе рассмотрены принципы рентгеноструктурного анализа и связанные с ними некоторые вопросы кристаллографии. Во второй главе изложены теоретические принципы элементного анализа многокомпонентных веществ, примененные к анализу природных алюмосиликатов (глин) и диоксида титана. Показано, что метод элементного анализа в пределах десятых долей процента не зависит от полиморфизма исследуемого материала. В третьей главе рассмотрено явление полного внешнего отражения (ПВО) рентгеновских лучей от металлов и показано, что метод ПВО имеет чисто поверхностный характер и в сочетании с рентгеновской дифракцией установлен закон обратной зависимости показателя преломления рентгеновских лучей от межплоскостного расстояния. В следующей главе рассмотрено определение в твердых телах плазменных колебаний, возбужденных рентгеновскими лучами. Показана возможность измерения энергии плазмонов, концентрации плазменных локализованных электронов и энергии Ферми в металлах. Существенное расширение возможностей определения плазмонов методом ПВО обеспечил метод исследования дисперсии плазмонов в твердых телах. Показано, что этот метод позволяет определять внутренние механические напряжения и поляризацию в поверхностных слоях аморфных и кристаллических диэлектриков и полупроводников толщиной несколько нанометров.

Перейти к внешнему ресурсу: Оглавление
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В344
   К 60

    Колесов, Борис Алексеевич.
    Прикладная КР-спектроскопия : [монография] / Б. А. Колесов ; ответственный редактор Н. В. Суровцев ; Российская академия наук, Сибирское отделение, Институт неорганической химии им. А. В. Николаева, Министерство образования и науки Российской Федерации, Новосибирский национальный исследовательский государственный университет. - [перераб. изд.]. - Новосибирск : Издательство СО РАН, 2018. - 392, [4] с. : ил., табл. ; 22 см. - Предыдущее изд.: Раман-спектроскопия в неорганической химии и минералогии. - Новосибирск : Издательство СО РАН, 2009. - 300 экз.. - ISBN 978-5-7692-1577-3
Примечания о происхождении:
Экз. 69317 : Дар Издательства СО РАН.
Экз. 69318 : Дар Издательства СО РАН.

29.31.26

31.15.15

29.19.19

ББК В344.33 + Г51 + В374.7

Доп.точки доступа:
Суровцев, Н. В. \ред.\; Российская академия наук. Сибирское отделениеИнститут неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН; Министерство образования и науки Российской Федерации; Новосибирский государственный университет
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

   В385
   I-69


    International conference on electron, positron, neutron and X-ray scattering under external influences, Yerevan - Meghri, Armenia, 16-22 October 2017 : book of abstr. / Nat. acad. of sciences of Armenia, Inst. of appl. problems of physics. - [Yerevan] : Institute of applied problems of physics, 2017. - 70 p. : ill. ; 21 см. - Bibliogr. at the end of the art. - 100 экз.. - ISBN 978-9939-1-0607-6
Примечания о происхождении:
Экз. 5232-ino : Дар Гольденберга Б. Г.

ББК В385я431 + В372я431

Кл.слова (ненормированные):
scattering of high energy charged particles in crystals -- X-ray diffraction by surface acoustic wave -- synchrotron -- optical properties of materials -- acoustoplasma -- defects of structure of crystals -- diamond

Доп.точки доступа:
National academy of sciences of Armenia. Institute of applied problems of physics; International conference on electron, positron, neutron and X-ray scattering under the external influences (2017 ; Yerevan / Meghri)
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В37
   Г 20

    Гарипов, Равиль Мухамедзянович.
    Алгебраический метод вычисления кристаллографических групп и рентгеноструктурный анализ кристаллов : [учебное пособие для вузов] / Р. М. Гарипов ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Новосибирский государственный университет, Механико-математический факультет, Кафедра алгебры и математической логики. - Изд. 2-е, испр. - Новосибирск : РИЦ НГУ, 2016. - 147 с. : ил. ; 24 см. - 200 экз.. - ISBN 978-5-4437-0474-6
Примечания о происхождении:
Экз. 68856 : Дар Р. М. Гарипова.

29.19.19

ББК В372.13я73

Доп.точки доступа:
Министерство образования и науки Российской Федерации; Новосибирский государственный университет. Механико-Математический факультет, Кафедра алгебры и математической логики
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В381.1
   И 88


    Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов : Школа по подготовке молодых специалистов, [Новосибирск, Россия], 15-20 сентября 2015 г. : книга тезисов / Сибирский центр синхротронного и терагерцового излучения, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, АО ФНПЦ "Алтай", РФЯЦ ВНИИТФ, РФЯЦ ВНИИЭФ ; [ответственный за выпуск М. В. Кузин]. - Новосибирск : [ИЯФ СО РАН], 2015. - [39] с. : ил. ; 30 см. - 70 экз.. -

ББК В381.19я431 + В382.35я431 + В344я431 + В346я431 + В372.13я431

Кл.слова (ненормированные):
синхротронное излучение -- терагерцовое излучение -- материалов исследование -- лазеры на свободных электронах -- радиография -- дифракция порошковая -- рентгеновская томография -- микроскопия -- EXAFS -- XANES -- рентгеновская дифракция

Доп.точки доступа:
Кузин, Максим Витальевич \отв. за вып.\; Сибирский центр синхротронного и терагерцового излученияИнститут ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН; АО ФНПЦ "Алтай"; Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. Е. И. Забабахина; Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики; "Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов", школа по подготовке молодых специалистов (2015 ; Новосибирск)
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

   В382.3
   Ш 23

   Шапиро, Федор Львович
    Собрание трудов : [в 2 кн.] / Ф. Л. Шапиро ; Российская академия наук, Отделение физических наук. - 2-е изд., репр., доп. - Москва : Наука, 2015. - 24 см.
   [Кн. 2] : Нейтронные исследования. - 381, [1] с., [1] л. портр. : граф., табл. - ). - ISBN 978-5-02-039086-7
Примечания о происхождении:
Экз. 68808 : Дар ОИЯИ.

29.05.29

29.19.19

ББК В382.31я4 + В372.1я4

Доп.точки доступа:
Российская академия наук. Сибирское отделение. Отделение физических наук
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В377
   С 18

    Сандомирский, Сергей Григорьевич.
    Расчет и анализ размагничивающего фактора ферромагнитных тел : [монография] / С. Г. Сандомирский ; Национальная академия наук Беларуси, Объединенный институт машиностроения. - Минск : Беларуская навука, 2015. - 242, [1] с. : граф., табл. ; 20 см. - 120 экз.. - ISBN 978-985-08-1862-1
Примечания об особенностях:
Экз. 69000 : Копия ориг.
Экз. 69001 : Копия ориг.
Есть электронный вариант

ББК В377.34 + З 222 + В372.1 + Ж.с3

Кл.слова (ненормированные):
магнитная дефектоскопия -- намагничивание -- размагничивающий фактор -- расчет -- ферромагнитное тело -- электротехническое устройство -- эллипсоид
Аннотация: В монографии обобщены физические принципы использования понятия «размагничивающий фактор» в расчетах процесса и результата намагничивания ферромагнитного тела. Построена логическая цепочка от классических расчетов размагничивающего фактора эллипсоидов к интерполяционным формулам для расчета коэффициентов размагничивания неоднородно намагничиваемых тел. Обоснованы и разработаны формулы для расчета размагничивающего фактора изделий разной формы в разных условиях намагничивания. Показана эффективность их использования при решении задач магнитного структурного анализа и магнитных измерений. Рассчитана на научных сотрудников, инженеров, аспирантов и студентов, занимающихся магнитными измерениями, разработкой и применением электротехнических устройств, методов и средств магнитной дефектоскопии и магнитного структурного анализа.

Перейти к внешнему ресурсу: Полный текст

Доп.точки доступа:
Национальная академия наук Беларуси; Объединенный институт машиностроения
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

   В37
   И 98

    Ищенко, Анатолий Александрович.
    Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2013. - 615 с. : ил. ; 25 см. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз.. - ISBN 978-5-9221-1447-9

29.19.19

29.29

29.35.43

ББК В372.1 + В361 + В338.48
Рубрики: Дифракция--Электронов в кристаллах
Дифракция--Электронов в газах
Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электроны - Дифракция -- Электронография

Доп.точки доступа:
Гиричев, Георгий Васильевич; Тарасов, Юрий Игоревич
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   Г54
   Р 39


    Рентгенография катализаторов в контролируемых условиях температуры и среды : монография / [Плясова Л. М., Булавченко О. А., Кардаш Т. Ю. и др.] ; под редакцией Л. М. Плясовой ; Российская академия наук, Институт катализа им. Г. К. Борескова Сибирского отделения РАН. - Новосибирск : ИК им. Г. К. Борескова СО РАН, 2011. - 183 с. : ил. ; 29 см. - Загл. на корешке : Рентгенография катализаторов in situ. - 100 экз.. - ISBN 978-5-9902557-3-9

ББК Г54 + В372.13 + З 995
Рубрики: Исследование катализаторов
Кл.слова (ненормированные):
Катализаторы - Рентгенографические исследования

Доп.точки доступа:
Плясова, Л. М.; Булавченко, О. А.; Кардаш, Т. Ю.; Российская академия наук; Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

10.

   В37
   М 54

    "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", всероссийская научная конференция (1 ; 2009 ; Новосибирск).
    1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов": МИССФМ-2009, Новосибирск, 11-16 октября 2009 г. : тезисы докладов / Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН [и др.]. - Новосибирск : ИК им. Г. К. Борескова СО РАН, 2009. - 426 с. : ил. ; 21 см. - 380 экз.
Примечания о происхождении:
Экз. 66546 : Дар Князева Б. А.

29.19.19

31.19

ББК В372.1я431 + Г4я431

Доп.точки доступа:
Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН; Научный совет по аналитической химии РАН и его Сибирское отделение; Научный совет по физико-химическим основам полупроводникового материаловедения РАН
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

11.

   В381.1
   Ш 67


    Школа молодых специалистов "Синхротронное излучение. Дифракция и рассеяние", [Новосибирск], 19-23 октября 2009 г. : программа и сборник лекций / Сибирское отделение Российской академии наук, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера, Сибирский центр синхротронного и терагерцового излучения. - Новосибирск : ИЯФ СО РАН, 2009. - 90 с. : ил. -

ББК В381.19я431 + В346я431 + В344-1я431 + В372.13я431 + В382.35я431

Доп.точки доступа:
Российская академия наук. Сибирское отделение; Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН; Сибирский центр синхротронного и терагерцового излучения; Школа молодых специалистов "Синхротронное излучение. Дифракция и рассеяние" (2009 ; Новосибирск)
Экземпляры всего: 2
Ч/з (1), кх (1)
Свободны: Ч/з (1), кх (1)
Найти похожие

12.

   В37
   Ц 93

    Цыбуля, Сергей Васильевич.
    Введение в структурный анализ нанокристаллов : учебное пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова ; Федеральное агентство по образованию, Новосибирский государственный университет, Кафедра физических методов исследования твердого тела. - Новосибирск : РИЦ НГУ, 2009. - 87 с. : ил. - Библиогр.: с. 79-84. - ISBN 978-5-94356-762-9

29.19.19

ББК В372.13я73
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ--Твердых тел

Доп.точки доступа:
Черепанова, Светлана Витальевна; Федеральное агентство по образованиюНовосибирский государственный университет. Кафедра физических методов исследования твердого тела
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

13.

   В338
   С 42


    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; под редакцией М. М. Криштала. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7

29.35.43

29.19.19

ББК В338.48я73 + В372.13я73
Рубрики: Радиоэлектроника--учебное издание для высшей школы
Фотоэлектрические приборы
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующий электронный микроскоп

Доп.точки доступа:
Криштал, М. М.; Ясников, И. С.; Полунин, В. И.; Криштал, М. М. \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

14.

   Я19
   Б 59


    Библиографический указатель публикаций сотрудников Сибирского центра синхротронного и терагерцового излучения за 2006 год / Российская академия наук, Сибирское отделение, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН ; [составитель К. В. Эпштейн, при участии В. Б. Барышева]. - Новосибирск : ИЯФ СО РАН, 2008. - 66 с. ; 21 см. - 300 экз.. -

20.19.15

29.35.33

29.19.19

ББК Я19 : В381.19 + В381.19я1 + Я19 : В372.13 + В372.13я1

Доп.точки доступа:
Эпштейн, К. В. \сост.\; Барышев, В. Б. \сост.\; Российская академия наук. Сибирское отделение; Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

15.

   Я19
   Б 59


    Библиографический указатель публикаций сотрудников Сибирского центра синхротронного и терагерцового излучения за 2007 год / Российская академия наук, Сибирское отделение, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН ; [составитель К. В. Эпштейн, при участии В. Б. Барышева]. - Новосибирск : ИЯФ СО РАН, 2008. - 43 с. ; 21 см. - 300 экз.. -

20.19.15

29.35.33

29.19.19

16.

   В381.1
   Ф 45

    Фетисов, Геннадий Владимирович.
    Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ : [учебное пособие для старших курсов по специальности 020101 (011000) "Химия"] / Г. В. Фетисов ; под редакцией Л. А. Асланова. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 671 с. : ил. ; 25 см. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. - 1000 экз.. - ISBN 978-5-9221-0805-8 (в пер.)

ББК В381.19я73 + В346я73 + В372.13я73 + В382.35я73 + В344-1я73 + В381.58я73
Рубрики: Синхротронное излучение
Кл.слова (ненормированные):
Синхротронное излучение -- Рентгеноструктурный анализ

Доп.точки доступа:
Асланов, Леонид Александрович \ред.\
Экземпляры всего: 5
кх (3), Ч/з (2)
Свободны: кх (3), Ч/з (2)
Найти похожие

17.

   В37
   Б 87

    Брандон, Дэвид.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; перевод с английского под редакцией С. Л. Баженова, с дополнениями О. В. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2006. - 378 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий). - 2000 экз.. - ISBN 5-94836-018-0

29.19.19

29.35.43

81.09

ББК В372.1я73 + В338.48я73 + Ж3я73
Рубрики: Материалы--Микроструктура

Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред. пер.\; Егорова, О. В. \авт. доп.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

18.

   В37
   Г 20

    Гарипов, Равиль Мухамедзянович.
    Алгебраический метод вычисления кристаллографических групп и рентгеноструктурный анализ кристаллов : учебное пособие / Р. М. Гарипов ; Новосибирский государственный университет. - Новосибирск : РИЦ НГУ, 2003. - 179 с. : ил. - Библиогр.: с. 178-179. -

29.19.19

ББК В372.13я73
Рубрики: Кристаллографические группы
   Федорова группы симметрии--Кристаллов
   Рентгеноструктурный анализ--Математические основы
   Федорова группы симметрии, кристаллов
   Рентгеноструктурный анализ, математические основы

Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

19.

   В37
   Б 86

    Боуэн, Д. К.
    Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : монография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; ответственный редактор И. Л. Шульпина; перевод с английского И. Л. Шульпиной, Т. С. Аргуновой]. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273, [1] с. : ил., граф., табл. ; 25 см. - Пер. изд. : High resolution X-ray diffractometry and topography / D.Keith Bowen, Brian K. Tanner. - 700 экз.. - ISBN 5-02-024963-7

29.19.19

29.31.26

ББК В372.13 + В346
Рубрики: Электронные материалы--Рентгеновские методы исследования

Доп.точки доступа:
Таннер, Б. К.; Шульпина, И. Л. \пер.\; Аргунова, Т. С. \пер.\; Шульпина, И. Л. \ред.\; Bowen, D. Keith; Tanner, Brian K.
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

20.

   В37
   Г 68

    Горелик, Семен Самуилович.
    Рентгенографический и электронно-оптический анализ : [учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлениям 550500 - Металлургия, 651300 - Металлургия, 651800 - Физическое материаловедение] / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - Изд. 4-е, перераб. и доп. - Москва : МИСиС, 2002. - 357, [1] с. : ил., табл. ; 27 см. - 2000 экз.. - ISBN 5-87623-096-0

29.19.19

47.29.39

ББК В372.13я73 + З 995-5я73

Доп.точки доступа:
Скаков, Юрий Александрович; Расторгуев, Леонид Николаевич
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

1-20 21-40 41-60 61-70

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)