Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>) |
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Кортуков Е. В. Электронно-микроскопическая авторадиография/Е. В. Кортуков, М. Ф. Меркулов. - 1982
|
2.
| Лукьянович В. М. Электронная микроскопия в физико-химических исследованиях. Методика и применение/В. М. Лукьянович ; ответственный редактор К. В. Чмутов. - 1960
|
3.
| Лейзеганг З. Электронная микроскопия/З. Лейзеганг. - 1960
|
4.
| Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела/В. И. Троян, М. А. Пушкин, В. Д. Борман, В. Н. Тронин ; под редакцией В. Д. Бормана. - 2008
|
5.
| Кульбачинский В. А. Физика наносистем/В. А. Кульбачинский. - 2023
|
6.
| Справочник по микроскопии для нанотехнологии/Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям ; под редакцией Нан Яо, Чжун Ли Ван ; научный редактор русского издания, автор предисловия русского издания И. В. Яминский. - 2011
|
7.
| Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения/М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; под редакцией М. М. Криштала. - 2009
|
8.
| Фульц Б. Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов/Б. Фульц, Дж. М. Хау ; перевод с английского В. И. Даниленко под редакцией А. В. Мохова. - 2011
|
9.
| Сергеев А. Г. Нанометрология/А. Г. Сергеев. - 2011
|
10.
| Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля/Д. Брандон, У. Каплан. - 2006
|
|
|
|
Авторефераты диссертаций и диссертации
Стандартный
Главная
Описание
