Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска
Авторефераты диссертаций и диссертации
Отечественные журналы
Препринты
Электронный каталог книг и продолжающихся изданий
База ученого секретаря
Пресса об ИЯФ
Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-14 
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/И 98
Автор(ы) : Ищенко, Анатолий Александрович, Гиричев, Георгий Васильевич, Тарасов, Юрий Игоревич
Заглавие : Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2013
Колич.характеристики :615 с.: ил.; 25 см.
Примечания : Библиогр. в конце гл.
ISBN, Цена 978-5-9221-1447-9:
ГРНТИ : 29.19.19 + 29.29 + 29.35.43
ББК : В372.1 + В361 + В338.48
Предметные рубрики: Дифракция-- Электронов в кристаллах
Дифракция-- Электронов в газах
Электронная микроскопия
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В344/Ф 50
Автор(ы) : Троян, Виктор Иванович, Пушкин, Михаил Александрович, Борман, Владимир Дмитриевич
Заглавие : Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела : [учебное пособие для студентов вузов]
Выходные данные : Москва: МИФИ, 2008
Колич.характеристики :257 с.: ил.
Коллективы : Федеральное агентство по образованию, Московский инженерно-физический институт
Серия: Учебная книга инженера-физика
ISBN, Цена 978-5-7262-1020-3:
ГРНТИ : 29.31.26 + 29.35.43 + 29.29 + 81.09 + 29.19.22
ББК : В344.1я73 + В338.48я73 + В361я73 + Ж364я73
Предметные рубрики: Поверхностные явления-- В твердых телах
Тонкие слои-- Твердых тел
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Г4/М 15
Автор(ы) : Мак-Махон, Джиллиан
Заглавие : Аналитические приборы. Руководство по лабораторным, портативным и миниатюрным приборам
Выходные данные : Санкт-Петербург: Профессия, 2009
Колич.характеристики :351 с.: граф., табл., схем., рис.; 24 см
Перевод издания: McMahon, Gillian Analytical instrumentation. A Guide to laboratory, portable and miniaturized instruments. -2007
ISBN, Цена 978-5-93913-193-3:
ГРНТИ : 31.19.03 + 29.31.26 + 29.35.43
ББК : Г43/48я7 + В344.3я7 + В338.48я7
Предметные рубрики: Контрольно-измерительные инструменты и приборы
Аналитическая химия
Аннотация: В новейшем руководстве описываются все основные современные аналитические методы, принципы работы устройств, используемые приборы и области их применения. В книгe приведены данные, необходимые для выбора приборов, представлены их сравнительные характеристики и показаны преимущества различных моделей. Даны практические рекомендации по применению приборов в различных отраслях промышленности и областях науки. Руководство предназначено для специалистов лабораторий, сотрудников центров сертификации, исследовательских и испытательных центров, а также научных сотрудников, аспирантов и студентов.
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж6/С 74
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : перевод с английского
Выходные данные : Москва: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :711, [1] с.: ил.; 27 см
Коллективы : Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники
Перевод издания: Handbook of microscopy for nanotechnology
Примечания : Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с. 702-711
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91522-232-7:
ГРНТИ : 81.13.30 + 29.35.43 + 29.31.29
ББК : Ж6я2 + В338.48я2 + В342.8я2
Предметные рубрики: Микроскоп и микроскопическая техника-- Справочники
Наноструктуры-- Методы исследования
Аннотация: Книга посвящена современным методам микроскопии, технике измерений и литографии на наномасштабе. В книге рассмотрены основные экспериментальные методы конфокальной оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой микроскопии, ионной и электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, зондовой и электронной литографии и др. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией. В книге изложены основные принципы работы методов микроскопии, области их применения, приведены многочисленные примеры их использования. Разделы книги написаны и переведены учеными с мировым именем – ведущими специалистами в области микроскопии и нанотехнологии. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией.
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж10/С 32
Автор(ы) : Сергеев, Алексей Георгиевич
Заглавие : Нанометрология
Выходные данные : Москва: Логос, 2011
Колич.характеристики :413 с.: ил.; 22 см.
ISBN, Цена 978-5-98704-494-0:
ГРНТИ : 90 + 29.35.43
ББК : Ж10 + В338.48
Предметные рубрики: Метрология-- Микроскопические методы
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В338/Ф 94
Автор(ы) : Фульц, Брент, Хау, Джеймс М.
Заглавие : Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2011
Колич.характеристики :904 с.: ил
Серия: Мир физики и техники
ISBN, Цена 978-5-94836-291-5:
ГРНТИ : 29.35.43 + 47.29.39
ББК : В338.48 + В346
Предметные рубрики: Физика твердого тела-- Структура твердых тел-- Структурный анализ твердых тел-- Электронная и ионная микроскопия
Дифрактометрия
Электронная микроскопия просвечивающая
Аннотация: В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления недостатков, обнаруженных в ходе преподавания. Книга представляет интерес для ученых, инженеров и преподавателей высшей школы, аспирантов и студентов профильных вузов.
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В342/К 47
Автор(ы) : Кларк, Эшли Р., Эберхардт, Колин Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :371, [5] с.: ил.
Коллективы : Институт синтетических полимерных материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце разд.
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-121-5:
ГРНТИ : 29.31.29 + 29.35.43 + 81.09
ББК : В342.8 + В338.48 + Ж3
Предметные рубрики: техника-- материаловедение-- оптические приборы
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Б 87
Автор(ы) : Брандон, Дэвид, Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :378 с.: ил.; 24 см.
Серия: Мир материалов и технологий
ISBN, Цена 5-94836-018-0:
ГРНТИ : 29.19.19 + 29.35.43 + 81.09
ББК : В372.1я73 + В338.48я73 + Ж3я73
Предметные рубрики: Материалы-- Микроструктура
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В338/С 42
Автор(ы) : Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И.
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2009
Колич.характеристики :206 с.: ил.
Серия: Мир физики и техники
ISBN, Цена 978-5-94836-200-7:
ГРНТИ : 29.35.43 + 29.19.19
ББК : В338.48я73 + В372.13я73
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Фотоэлектрические приборы
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В338/А 22
Автор(ы) : Мюллер Э. В., Саутон М., Брэндон Д., Мур А., Рен Дж., Ранганатан С., Ральф Б., Мелмед А.
Заглавие : Автоионная микроскопия : [коллективная монография]
Выходные данные : Москва: Мир, 1971
Колич.характеристики :270 с.: ил., табл.; 22 см.
Перевод издания: Muller E. W. Field-ion microscopy/ E. W. Muller, M. J. Southon, D. G. Brandon. -New York, 1968
Примечания : Парал. тит. л. англ. - Библиогр.: с. 215-227, 239, 262-267 :
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : В338.48
Аннотация: Книга представляет собой коллективную монографию, написанную на основе впервые введенного в учебную программу университетского курса по автоионной микроскопии - поэтому бурно развивающемуся методу экспериментальной физики, который позволяет, например, наблюдать на атомарном уровне кристаллическую решетку металлических образцов. В ней отражены современные теории и экспериментальные данные по полевой эмиссии и полевой ионизации, процессам испарения поверхностных атомных слоев с образцов под действием электрического поля. Авторы дают рекомендации по способам исследования в ионном проекторе (автоионном микроскопе) многих чистых металлов и сплавов, тонких пленок и биологических молекул на металлической поверхности. Они излагают методы интерпретации автоионных изображений и анализа разных дефектов по подобным изображениям. Книга предназначается для инженеров, научных работников, аспирантов и студентов, работающих в областях физики твердого тела, кристаллографии, физической электроники, биологии, физико-технических разделов различных технических дисциплин.
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
 1-10    11-14 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)