Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=59.03.05$<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж10/Л 66
Автор(ы) : Лич, Ричард
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : [учебное пособие]
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2012
Колич.характеристики :399 с.: ил.; 22 см
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91559-119-5:
ГРНТИ : 59.03.05 + 90.03.03
ББК : Ж104я73
Предметные рубрики: Нанометрология
Аннотация: Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж10/Б 88
Автор(ы) : Бродников, Александр Федорович, Вихарева, Надежда Анатольевна, Черепанов, Виктор Яковлевич
Заглавие : Оценка погрешности измерений : учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Сибпринт, 2016
Колич.характеристики :23 с.: табл.; 21 см
Коллективы : Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, Новосибирский филиал Федерального государственного автономного образовательного учреждения дополнительного профессионального образования "Академия стандартизации, метрологии и сертификации (учебная)"
Примечания : Библиогр.: с. 23 (8 назв.)
ISBN, Цена 978-5-94301-650-9:
ГРНТИ : 90.01.33 + 59.03.05 + 59.03.09
ББК : Ж10я7 + К91я7
Экземпляры : всего : с.ф.(1), Ч/з(1), кх(3)
Свободны : с.ф.(1), Ч/з(1), кх(3)
Перейти к внешнему ресурсу: Полный текст
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)