Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=59.35$<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

   К2
   М 64

    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов старших курсов вузов / В. Миронов ; Российская академия наук, Институт физики микроструктур. - Москва : Техносфера, 2004. - 143 с. : ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники ; II-02). - 1500 экз.. - ISBN 5-94836-034-2

53.49.19

59.35

ББК К204

Перейти к внешнему ресурсу: Оглавление
Доп.точки доступа:
Российская академия наук; Институт физики микроструктур РАН
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   Ж10
   К 47

    Клаассен, Клаас Б..
    Основы измерений. Электронные методы и приборы в измерительной технике : учебное пособие / К. Б. Клаассен ; перевод с английского Е. В. Воронова, А. Л. Ларина. - Москва : Постмаркет, 2002. - 350 с. : ил. ; 25 см. - (Библиотека современной электроники). - Пер. изд. : Electronic measurement and instrumentation / K. B. Klaassen. - Cambridge, 1996. - 2000 экз.. - ISBN 5-901095-02-2

ББК Ж10 + В3с25 + З 221

Доп.точки доступа:
Воронов, Е. В. \пер.\; Ларин, А. Л. \пер.\; Klaassen, K. B.
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)