Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

База ученого секретаря (2)

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая) (5)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 26
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-26

   В37
   И 98

    Ищенко, Анатолий Александрович.
    Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2013. - 615 с. : ил. ; 25 см. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз.. - ISBN 978-5-9221-1447-9

29.19.19

29.29

29.35.43

ББК В372.1 + В361 + В338.48
Рубрики: Дифракция--Электронов в кристаллах
Дифракция--Электронов в газах
Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электроны - Дифракция -- Электронография

Доп.точки доступа:
Гиричев, Георгий Васильевич; Тарасов, Юрий Игоревич
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   Ж6
   С 74


    Справочник по микроскопии для нанотехнологии : перевод с английского / Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям ; под редакцией Нан Яо, Чжун Ли Ван ; научный редактор русского издания, автор предисловия русского издания И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 711, [1] с. : ил. ; 27 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с. 702-711. - Пер. изд. : Handbook of microscopy for nanotechnology. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.)

81.13.30

29.35.43

29.31.29

ББК Ж6я2 + В338.48я2 + В342.8я2
Рубрики: Микроскоп и микроскопическая техника--Справочники
Наноструктуры--Методы исследования
Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- наноразмерные системы -- нанотехнология -- спектральные методы -- электронная микроскопия -- микроскопия оптическая
Аннотация: Книга посвящена современным методам микроскопии, технике измерений и литографии на наномасштабе. В книге рассмотрены основные экспериментальные методы конфокальной оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой микроскопии, ионной и электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, зондовой и электронной литографии и др. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией. В книге изложены основные принципы работы методов микроскопии, области их применения, приведены многочисленные примеры их использования. Разделы книги написаны и переведены учеными с мировым именем – ведущими специалистами в области микроскопии и нанотехнологии. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией.

Доп.точки доступа:
Нан, Яо \ред.\; Чжун, Лин Ван \ред.\; Яминский, И. В. \науч. ред. русского издания, авт. предисл. русского издания.\; Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова; Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В338
   Ф 94

    Фульц, Брент.
    Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; перевод с английского В. И. Даниленко под редакцией А. В. Мохова. - Москва : Техносфера, 2011. - 904 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-291-5

29.35.43

47.29.39

ББК В338.48 + В346
Рубрики: Физика твердого тела--Структура твердых тел--Структурный анализ твердых тел--Электронная и ионная микроскопия
Дифрактометрия
Электронная микроскопия просвечивающая
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия материалов -- просвечивающая электронная микроскопия -- рентгеновская дифракция
Аннотация: В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления недостатков, обнаруженных в ходе преподавания. Книга представляет интерес для ученых, инженеров и преподавателей высшей школы, аспирантов и студентов профильных вузов.

Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс М.; Даниленко, В. И. \пер.\; Мохов, А. В. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В381.1
   И 88


    Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов : Школа по подготовке молодых специалистов, [Новосибирск, Россия], 15-20 сентября 2015 г. : книга тезисов / Сибирский центр синхротронного и терагерцового излучения, Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, АО ФНПЦ "Алтай", РФЯЦ ВНИИТФ, РФЯЦ ВНИИЭФ ; [ответственный за выпуск М. В. Кузин]. - Новосибирск : [ИЯФ СО РАН], 2015. - [39] с. : ил. ; 30 см. - 70 экз.. -

ББК В381.19я431 + В382.35я431 + В344я431 + В346я431 + В372.13я431

Кл.слова (ненормированные):
синхротронное излучение -- терагерцовое излучение -- материалов исследование -- лазеры на свободных электронах -- радиография -- дифракция порошковая -- рентгеновская томография -- микроскопия -- EXAFS -- XANES -- рентгеновская дифракция

Доп.точки доступа:
Кузин, Максим Витальевич \отв. за вып.\; Сибирский центр синхротронного и терагерцового излученияИнститут ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН; АО ФНПЦ "Алтай"; Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. Е. И. Забабахина; Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики; "Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов", школа по подготовке молодых специалистов (2015 ; Новосибирск)
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

   В37
   Д 50


    Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения / [В. В. Болдырев и др.] ; ответственный редактор Г. Н. Кулипанов ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт биофизики, Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья, Институт ядерной физики. - Новосибирск : Наука, Сибирское отделение, 1989. - 143 с. : ил. - ISBN 5-02-028690-7

29.19.19

29.35.33

47.29.39

ББК В372.13 + В381.19 + В346
Рубрики: Кристаллы--Структура--Методы исследования--Рентгеноструктурный анализ
Микроскопия электронная просвечивающая

Доп.точки доступа:
Болдырев, Владимир Вячеславович; Ляхов, Н. З.; Толочко, Борис Петрович; Кулипанов, Геннадий Николаевич \ред.\; Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт биофизики СО АН СССР; Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья СО АН СССР; Институт ядерной физики СО АН СССР
Экземпляры всего: 3
кх (2), с.ф. (1)
Свободны: кх (2), с.ф. (1)
Найти похожие

   В382.3
   П 76


    Применение синхротронного излучения в структурной химии : [сборник статей] / [Г. Н. Кулипанов и др. ; редколлегия: Мазалов Л. Н. и др. ; ответственные редакторы выпуска: Б. П. Толочко и др.] ; Российская академия наук, Сибирское отделение. - Новосибирск : Издательство СО РАН, 2016. - 1352-1573, [11] с. : ил. ; 29 см. - Вып. журн.: Журнал структурной химии. 2016. Т. 57. № 7. - 92 экз.
    Содержание:
Обзоры. Синхротронное излучение в СО РАН
Исследование строения молекул физическими методами
Структура жидкостей и растворов
Кристаллохимия
Супрамолекулярные соединения и наноразмерные системы
Структура биологически активных систем
Краткие сообщения

58.31

31.15.15

81.09.30

ББК В382.35я4 + Г51я4 + Ж364я4

Кл.слова (ненормированные):
синхротронное излучение -- рентгеновская дифракция -- рентгеновская спектроскопия -- EXAFS спектроскопия -- вигглеры -- порошковая дифракция -- временное разрешение -- детонация -- электрохимия -- наводораживание -- наноалмазы -- in situ -- рентгенофлуоресцентный анализ -- рентгеновская микроскопия -- биоткани -- рентгеновская абсорбционная спектроскопия -- ацетатно-бипиридиновый комплекс меди (II) -- XANES -- ЭПР -- интерметаллиды -- цеолиты -- сверхгидратация -- графен -- графит -- биметаллические частицы -- нанокомпозиты -- квантовые точки -- нанотрубки углеродные -- мессбауэровская спектоскопия -- биомедицина -- наночастицы -- магнетит -- адамантан -- алмаз -- противоопухолевые препараты

Доп.точки доступа:
Кулипанов, Г. Н.; Мезенцев, Н. А.; Пиндюрин, В. Ф.; Толочко, Б. П.; Золотарев, К. В.; Аракчеев, А. С.; Шмаков, А. Н.; Шарафутдинов, М. Р.; Попов, В. А.; Шошин, А. А.; Васильев, А. А.; Сковородин, Д. И.; Полосаткин, С. В.; Бурдаков, А. В.; Батаев, И. А.; Батаев, В. А.; Дементьев, Е. Н.; Шеромов, М. А.; Трунова, В. А.; Зверева, В. В.; Семушкина, Г. И.; Мазалов, Л. Н.; Басова, Т. В.; Кременная, М. А.; Солдатов, М. А.; Будник, А. П.; Ластовина, Т. А.; Солдатов, А. В.; Коротаев, Е. В.; Канажевский, В. В.; Перегудова, Н. Н.; Сыроквашин, М. М.; Соколов, В. В.; Филатова, И. Ю.; Пичугин, А. Ю.; Анчаров, А. И.; Панкин, И. А.; Кравцова, А. Н.; Положенцев, О. Е.; Серёткин, Ю. В.; Лихачева, А. Ю.; Ращенко, С. В.; Асанова, Т. И.; Асанов, И. П.; Тур, В. А.; Герасимов, Е. Ю.; Бжезинская, М.; Эренбург, С. Б.; Трубина, С. В.; Зиновьев, В. А.; Двуреченский, А. В.; Кучинская, П. А.; Квашнина, К. А.; Бельтюков, А. Н.; Чукавин, А. И.; Валеев, Р. Г.; Тригуб, А. Л.; Елькин, И. А.; Кривенцов, В. В.; Бутова, В. В.; Боброва, И. А.; Красников, Д. В.; Кузнецов, В. Л.; Ищенко, А. В.; Бугаев, А. А.; Кубрин, С. П.; Кудрявцев, Е. В.; Менушенков, А. П.; Попов, В. В.; Зубавичус, Я. В.; Ярославцев, А. А.; Кочкина, В. К.; Сташенко, В. В.; Чернышёв, А. П.; Бохонов, Б. Б.; Тен, К. А.; Прууэл, Э. Р.; Ляхов, Н. З.; Мазалова, В. Л.; Гаврюшкин, П. Н.; Шацкий, А. Ф.; Литасов, К. Д.; Чанышев, А. Д.; Толочко, Б. П. \ред.\; Солдатов, А. В. \ред.\; Наберухин, Ю. И. \ред.\; Солодовников, С. Ф. \ред.\; Цыбуля, С. В. \ред.\; Мазалов, Л. Н. \ред.\; Российская академия наук. Сибирское отделение
Экземпляры всего: 1
Ч/з (1)
Свободны: Ч/з (1)
Найти похожие

   К2
   К 56

    Ковалев, Анатолий Иванович.
    Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский. - Москва : Металлургия, 1989. - 192 с. : ил. - ISBN 5-229-00444-4

53.49.19

29.19.19

ББК К204 + В372.13

Кл.слова (ненормированные):
растровая электронная микроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- спектроскопия оже-электронов -- спектроскопия потерь энергии электронов -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- спектроскопия ионов рассеивания -- лазерный микрозондовый анализ
Аннотация: Изложены теоретические основы исследования состава и строения поверхности металлов и сплавов методами электронной и ионной спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновским микроанализом.

Доп.точки доступа:
Щербединский, Геннадий Васильевич
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В343
   Л 73

    Локшин, Геннадий Рафаилович.
    Основы радиооптики : учебное пособие для вузов / Г. Р. Локшин. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 344 с. : ил. ; 22 см. - (Физтеховский учебник). - Библиогр.: с. 342-343. - 1000 экз.. - ISBN 978-5-91559-020-4 (в пер.)

29.31.15

47.05

ББК В343.4я73 + З 841я73
Рубрики: Оптоэлектроника--Учебные издания для высших учебных заведений
Кл.слова (ненормированные):
фурье-оптика -- дифракция -- дифракционная теория формирования изображения -- оптические системы -- корреляционная фильтрация -- модуляционная микроскопия -- цифровая голография -- радиоголография
Аннотация: Многие задачи обработки информации не могут быть решены без применения оптических методов. Преобразование света в оптических системах изучается с использованием закономерностей, управляющих работой линейных колебательных систем. Вопросы дифракции и формирования оптического изображения, а также принципы пространственной фильтрации и оптической обработки информации рассмотрены на основе естественного обобщения принципов линейной фильтрации электронных сигналов. Обсуждаются методы улучшения качества изображений и наблюдения фазовых объектов; согласованная фильтрация и проблема распознавания образов; способы получения голограмм без опорного пучка, основанные на идеях корреляционной фильтрации. и ряд других задач.

Свободных экз. нет
Найти похожие

   К5
   У 13

    Уайтхауз, Д.
    Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы : перевод с английского / Д. Уайтхауз. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 472 с. : ил. - ISBN 978-5-91559-023-5

55.01.81

55.13

ББК К5-7
Рубрики: Машиностроение--методы обработки
Кл.слова (ненормированные):
метрология поверхностей -- методы обработки -- машиностроение -- обработка -- инструмент -- профили -- визуализация -- шероховатость -- технология обработки -- токарная обработка -- алмазное точение -- фрезерование -- наношлифование -- щуповые приборы -- датчик -- оптический метод -- сканирующая микроскопия -- калибровка приборов

Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

10.

   В 37
   З-56

    Зенгуил, Эндрью.
    Физика поверхности / Э. Зенгуил ; перевод с английского С. А. Венкстерна [и др.] ; под редакцией В. Ф. Киселева. - Москва : Мир, 1990. - 536 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр: с. 512-528 (624 назв.). - Библиогр. в конце глав. - Указ. предм. и поверхност. структур: с. 529-533. - Пер. изд. : Physics at surfaces / Andrew Zangwill. - New York [et al.]. - 4300 экз.. - ISBN 5-03-001599-X (в пер.)

29.19.04

31.15.35

ББК В372.5 + Г58

Кл.слова (ненормированные):
физика поверхности -- термодинамика -- электронная спектроскопия -- микроскопия -- кристаллография -- металл -- сплав -- полупроводник -- плавление -- магнетизм -- фонон -- отражение -- поляритон -- адсорбция -- хемосорбция -- диффузия -- катализ -- рост кристаллов
Аннотация: В книге американского ученого освещены важнейшие вопросы физики поверхностных явлений - раздела науки, который приобрел сейчас самостоятельное значение. Автор удачно сочетает изложение экспериментальных данных с их теоретической интерпретацией. Усвоению материала способствуют многочисленные рисунки. Для студентов, аспирантов, преподавателей, научных работников, занимающихся физикой и химией поверхности и межфазными явлениями, а также для специалистов по твердотельной электронике.

Доп.точки доступа:
Zangwill, Andrew
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

1-10 11-20 21-26

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)