Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска
Авторефераты диссертаций и диссертации
Отечественные журналы
Препринты
Электронный каталог книг и продолжающихся изданий
База ученого секретаря
Пресса об ИЯФ
Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=Нанотехнология - Метрологическое обеспечение<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   Ж10
   С 32

    Сергеев, Алексей Георгиевич.
    Нанометрология / А. Г. Сергеев. - Москва : Логос, 2011. - 413 с. : ил. ; 22 см. - 1000 экз.. - ISBN 978-5-98704-494-0
90
29.35.43
ББК Ж10 + В338.48
Рубрики: Метрология--Микроскопические методы
Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнология - Метрологическое обеспечение

Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)