Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Найдено в других БД:

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая) (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскоп<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

   Ж6
   С 74


    Справочник по микроскопии для нанотехнологии : перевод с английского / Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям ; под редакцией Нан Яо, Чжун Ли Ван ; научный редактор русского издания, автор предисловия русского издания И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 711, [1] с. : ил. ; 27 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с. 702-711. - Пер. изд. : Handbook of microscopy for nanotechnology. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.)

81.13.30

29.35.43

29.31.29

ББК Ж6я2 + В338.48я2 + В342.8я2
Рубрики: Микроскоп и микроскопическая техника--Справочники
Наноструктуры--Методы исследования
Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- наноразмерные системы -- нанотехнология -- спектральные методы -- электронная микроскопия -- микроскопия оптическая
Аннотация: Книга посвящена современным методам микроскопии, технике измерений и литографии на наномасштабе. В книге рассмотрены основные экспериментальные методы конфокальной оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой микроскопии, ионной и электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, зондовой и электронной литографии и др. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией. В книге изложены основные принципы работы методов микроскопии, области их применения, приведены многочисленные примеры их использования. Разделы книги написаны и переведены учеными с мировым именем – ведущими специалистами в области микроскопии и нанотехнологии. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией.

Доп.точки доступа:
Нан, Яо \ред.\; Чжун, Лин Ван \ред.\; Яминский, И. В. \науч. ред. русского издания, авт. предисл. русского издания.\; Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова; Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   Ж6
   К 55

    Кобаяси, Наоя.
    Введение в нанотехнологию / Н. Кобаяси ; перевод с японского А. В. Хачояна ; под редакцией Л. Н. Патрикеева. - 2-е изд. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2008. - 134 с. : ил. - (Нанотехнология). - ISBN 978-5-94774-841-3

81.13.30

ББК Ж6

Кл.слова (ненормированные):
информационные терминалы -- история нанотехнологии -- квантовый компьютер -- микрочипы -- нанонаука -- наностекла -- нанотехнологии -- нанотехнологические исследования -- нанотехнология -- наука -- проекты -- туннельный эффект -- углеродные нанотрубки -- электронный микроскоп
Аннотация: Книга в популярной форме знакомит читателя с достижениями в области нанотехнологии в Японии и других странах в конце ХХ - начале XXI века.

Доп.точки доступа:
Хачоян, А. В. \пер.\; Патрикеев, Л. Н. \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В338
   С 42


    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; под редакцией М. М. Криштала. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7

29.35.43

29.19.19

ББК В338.48я73 + В372.13я73
Рубрики: Радиоэлектроника--учебное издание для высшей школы
Фотоэлектрические приборы
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующий электронный микроскоп

Доп.точки доступа:
Криштал, М. М.; Ясников, И. С.; Полунин, В. И.; Криштал, М. М. \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В342
   П 75


    Прикладная оптика : учебное пособие для вузов / Л. Г. Бебчук [и др.] ; под редакцией Н. П. Заказнова. - Изд. 3-е, стер. - Санкт-Петербург [и др.] : Лань, 2009. - 312 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 300-301. - Указ. предм. и имен.: с. 302-309. - 1500 экз.. - ISBN 978-5-8114-0757-6

29.31.29

ББК В342я73

Кл.слова (ненормированные):
физическая оптика -- свет -- фотометрия -- голография -- геометрическая оптика -- оптические детали -- глаз -- телескопы -- лупа -- микроскоп -- осветительные системы -- проекционные системы

Доп.точки доступа:
Бебчук, Л. Г.; Богачев, Ю. В.; Заказнов, Н. П.; Комраков, Б. М.; Михайловская, Л. И.; Шапочкин, Б. А.; Заказнов, Н. П. \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)