Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=растровая электронная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 1

   К2
   К 56

    Ковалев, Анатолий Иванович.
    Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский. - Москва : Металлургия, 1989. - 192 с. : ил. - ISBN 5-229-00444-4

53.49.19

29.19.19

ББК К204 + В372.13

Кл.слова (ненормированные):
растровая электронная микроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- спектроскопия оже-электронов -- спектроскопия потерь энергии электронов -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- спектроскопия ионов рассеивания -- лазерный микрозондовый анализ
Аннотация: Изложены теоретические основы исследования состава и строения поверхности металлов и сплавов методами электронной и ионной спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновским микроанализом.

Доп.точки доступа:
Щербединский, Геннадий Васильевич
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)