Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска
Авторефераты диссертаций и диссертации
Отечественные журналы
Препринты
Электронный каталог книг и продолжающихся изданий
База ученого секретаря
Пресса об ИЯФ
Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   В338
   С 42

   
    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; под редакцией М. М. Криштала. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7
29.35.43
29.19.19
ББК В338.48я73 + В372.13я73
Рубрики: Радиоэлектроника--учебное издание для высшей школы
   Фотоэлектрические приборы
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующий электронный микроскоп


Доп.точки доступа:
Криштал, М. М.; Ясников, И. С.; Полунин, В. И.; Криштал, М. М. \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)