Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=микроэлектроника<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

   З 842
   А 94

    Афонский, Александр Алексеевич.
    Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под редакцией В. П. Дьяконова. - Москва : ДМК Пресс, 2011. - 687 с. : ил. ; 21 см. - 300 экз.. - ISBN 978-5-94074-626-3

ББК З 842 + З 856 + З 844.1 + Ж6
Рубрики: микроэлектроника
нанотехнология в электронике
метрология в радиоэлектронике
Кл.слова (ненормированные):
Контрольно-измерительные инструменты и приборы электронные -- нанотехнологии -- нанотехнологии (микроэлектроника) -- микроэлектроника (нанотехнологии) -- микросхемы (радиоэлектроника) -- полупроводники
Аннотация: Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира.

Доп.точки доступа:
Дьяконов, Владимир Павлович; Дьяконов, Владимир Павлович \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   З 844.1
   В 24

    Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий : учебное пособие для вузов : в 2 т. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - 2011. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-0.
   Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010. - 392 с. : ил. - ISBN 978-5-9963-0335-9

47.13

47.33.31

ББК З 844.15-06я73
Рубрики: Микроэлектроника--учебное издание для высшей школы
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- гетерогенное фазообразование -- фотохимическое воздействие излучений

Доп.точки доступа:
Райнова, Ю. П.
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   З 85
   Б 95

    Быстров, Юрий Александрович.
    Электронные цепи и микросхемотехника : [учебник для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров] / Ю. А. Быстров, И. Г. Мироненко. - Москва : Высшая школа, 2002. - 383, [1] с. : табл., схем. ; 21 см. - 5000 экз.. - ISBN 5-06-004040-2

47.01.33

47.33.37

ББК З 85я73
Рубрики: Микроэлектроника

Доп.точки доступа:
Мироненко, Игорь Германович
Экземпляры всего: 3
кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие

   З 844.1
   М 71

    Мишин, Геннадий Тимофеевич.
    Современная аналоговая микроэлектроника. Теория и практика / Г. Т. Мишин. - Москва : Радиотехника, 2007. - 208 с. : схем. ; 20 см. - 600 экз.. - ISBN 5-88070-125-5

47.03.05

ББК З 844.1
Рубрики: Микроэлектроника

Перейти к внешнему ресурсу: Оглавление
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)