Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>A=Кларк, Эшли Р.$<.>)

Общее количество найденных документов : 1

   В342
   К 47

    Кларк, Эшли Р..
    Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; перевод с английского С. Л. Баженова ; Институт синтетических полимерных материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН. - Москва : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-94836-121-5 (в пер.)

29.31.29

29.35.43

81.09

ББК В342.8 + В338.48 + Ж3
Рубрики: техника--материаловедение--оптические приборы
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроскопы -- микроскопия -- микроскопические методы -- конструкционные материалы -- фотоника -- цифровые изображения -- микроскопия отраженного света -- конфокальная микроскопия -- рамановская микроскопия -- атомно-силовая микроскопия (АСМ) -- рентгеновская микроскопия -- томография -- сканирующая акустическая микроскопия

Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н.; Баженов, С. Л. \пер.\; Институт синтетических полимерных материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)