Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14

   В37
   И 98

    Ищенко, Анатолий Александрович.
    Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2013. - 615 с. : ил. ; 25 см. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз.. - ISBN 978-5-9221-1447-9

29.19.19

29.29

29.35.43

ББК В372.1 + В361 + В338.48
Рубрики: Дифракция--Электронов в кристаллах
Дифракция--Электронов в газах
Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Электроны - Дифракция -- Электронография

Доп.точки доступа:
Гиричев, Георгий Васильевич; Тарасов, Юрий Игоревич
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В344
   Ф 50


    Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела : [учебное пособие для студентов вузов] / В. И. Троян, М. А. Пушкин, В. Д. Борман, В. Н. Тронин ; под редакцией В. Д. Бормана ; Федеральное агентство по образованию, Московский инженерно-физический институт (государственный университет). - Москва : МИФИ, 2008. - 257 с. : ил. - (Учебная книга инженера-физика). - ISBN 978-5-7262-1020-3

ББК В344.1я73 + В338.48я73 + В361я73 + Ж364я73
Рубрики: Поверхностные явления--В твердых телах
Тонкие слои--Твердых тел

Доп.точки доступа:
Троян, Виктор Иванович; Пушкин, Михаил Александрович; Борман, Владимир Дмитриевич; Федеральное агентство по образованию; Московский инженерно-физический институт
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   Г4
   М 15

    Мак-Махон, Джиллиан.
    Аналитические приборы. Руководство по лабораторным, портативным и миниатюрным приборам / Дж. Мак-Махон ; перевод с английского под редакцией Москвина Л. Н. - Санкт-Петербург : Профессия, 2009. - 351 с. : граф., табл., схем., рис. ; 24 см. - Пер. изд. : Analytical instrumentation. A Guide to laboratory, portable and miniaturized instruments / Gillian McMahon. - 2007. - 1000 экз.. - ISBN 978-5-93913-193-3

31.19.03

29.31.26

29.35.43

ББК Г43/48я7 + В344.3я7 + В338.48я7
Рубрики: Контрольно-измерительные инструменты и приборы
Аналитическая химия
Кл.слова (ненормированные):
лабораторные аналитические приборы -- спектрометрические приборы -- миниатюрные аналитические приборы -- микроскопы -- портативные аналитические приборы -- электрохимические приборы -- микрочиповые приборы
Аннотация: В новейшем руководстве описываются все основные современные аналитические методы, принципы работы устройств, используемые приборы и области их применения. В книгe приведены данные, необходимые для выбора приборов, представлены их сравнительные характеристики и показаны преимущества различных моделей. Даны практические рекомендации по применению приборов в различных отраслях промышленности и областях науки. Руководство предназначено для специалистов лабораторий, сотрудников центров сертификации, исследовательских и испытательных центров, а также научных сотрудников, аспирантов и студентов.

Доп.точки доступа:
Москвин, Л. Н. \ред.\; McMahon, Gillian
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   Ж6
   С 74


    Справочник по микроскопии для нанотехнологии : перевод с английского / Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям ; под редакцией Нан Яо, Чжун Ли Ван ; научный редактор русского издания, автор предисловия русского издания И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 711, [1] с. : ил. ; 27 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с. 702-711. - Пер. изд. : Handbook of microscopy for nanotechnology. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.)

81.13.30

29.35.43

29.31.29

ББК Ж6я2 + В338.48я2 + В342.8я2
Рубрики: Микроскоп и микроскопическая техника--Справочники
Наноструктуры--Методы исследования
Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- наноразмерные системы -- нанотехнология -- спектральные методы -- электронная микроскопия -- микроскопия оптическая
Аннотация: Книга посвящена современным методам микроскопии, технике измерений и литографии на наномасштабе. В книге рассмотрены основные экспериментальные методы конфокальной оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой микроскопии, ионной и электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, зондовой и электронной литографии и др. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией. В книге изложены основные принципы работы методов микроскопии, области их применения, приведены многочисленные примеры их использования. Разделы книги написаны и переведены учеными с мировым именем – ведущими специалистами в области микроскопии и нанотехнологии. Книга предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией.

Доп.точки доступа:
Нан, Яо \ред.\; Чжун, Лин Ван \ред.\; Яминский, И. В. \науч. ред. русского издания, авт. предисл. русского издания.\; Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова; Научно-образовательный центр по нанотехнологиям
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   Ж10
   С 32

    Сергеев, Алексей Георгиевич.
    Нанометрология / А. Г. Сергеев. - Москва : Логос, 2011. - 413 с. : ил. ; 22 см. - 1000 экз.. - ISBN 978-5-98704-494-0

29.35.43

ББК Ж10 + В338.48
Рубрики: Метрология--Микроскопические методы
Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнология - Метрологическое обеспечение

Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В338
   Ф 94

    Фульц, Брент.
    Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; перевод с английского В. И. Даниленко под редакцией А. В. Мохова. - Москва : Техносфера, 2011. - 904 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-291-5

29.35.43

47.29.39

ББК В338.48 + В346
Рубрики: Физика твердого тела--Структура твердых тел--Структурный анализ твердых тел--Электронная и ионная микроскопия
Дифрактометрия
Электронная микроскопия просвечивающая
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия материалов -- просвечивающая электронная микроскопия -- рентгеновская дифракция
Аннотация: В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления недостатков, обнаруженных в ходе преподавания. Книга представляет интерес для ученых, инженеров и преподавателей высшей школы, аспирантов и студентов профильных вузов.

Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс М.; Даниленко, В. И. \пер.\; Мохов, А. В. \ред. пер.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В342
   К 47

    Кларк, Эшли Р..
    Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; перевод с английского С. Л. Баженова ; Институт синтетических полимерных материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН. - Москва : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-94836-121-5 (в пер.)

29.31.29

29.35.43

81.09

ББК В342.8 + В338.48 + Ж3
Рубрики: техника--материаловедение--оптические приборы
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроскопы -- микроскопия -- микроскопические методы -- конструкционные материалы -- фотоника -- цифровые изображения -- микроскопия отраженного света -- конфокальная микроскопия -- рамановская микроскопия -- атомно-силовая микроскопия (АСМ) -- рентгеновская микроскопия -- томография -- сканирующая акустическая микроскопия

Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н.; Баженов, С. Л. \пер.\; Институт синтетических полимерных материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В37
   Б 87

    Брандон, Дэвид.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; перевод с английского под редакцией С. Л. Баженова, с дополнениями О. В. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2006. - 378 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий). - 2000 экз.. - ISBN 5-94836-018-0

29.19.19

29.35.43

81.09

ББК В372.1я73 + В338.48я73 + Ж3я73
Рубрики: Материалы--Микроструктура

Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред. пер.\; Егорова, О. В. \авт. доп.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   В338
   С 42


    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; под редакцией М. М. Криштала. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7

29.35.43

29.19.19

ББК В338.48я73 + В372.13я73
Рубрики: Радиоэлектроника--учебное издание для высшей школы
Фотоэлектрические приборы
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующий электронный микроскоп

Доп.точки доступа:
Криштал, М. М.; Ясников, И. С.; Полунин, В. И.; Криштал, М. М. \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

10.

   В338
   А 22


    Автоионная микроскопия : [коллективная монография] / [Э. В. Мюллер и др.] ; под редакцией Дж. Рена и С. Ранганатана ; перевод с английского А. Г. Соколова и А. Л. Суворова ; послесловие А. Л. Суворова. - Москва : Мир, 1971. - 270 с. : ил., табл. ; 22 см. - Парал. тит. л. англ. - Библиогр.: с. 215-227, 239, 262-267. - Пер. изд. : Field-ion microscopy : based upon a short lecture course / ed. by John J. Hren and S. Ranganathan. - New York, 1968. - (в пер.)
Примечания о происхождении:
Экз. 69228 : Из книг Димова Г. И.

29.35.43

ББК В338.48

Аннотация: Книга представляет собой коллективную монографию, написанную на основе впервые введенного в учебную программу университетского курса по автоионной микроскопии - поэтому бурно развивающемуся методу экспериментальной физики, который позволяет, например, наблюдать на атомарном уровне кристаллическую решетку металлических образцов. В ней отражены современные теории и экспериментальные данные по полевой эмиссии и полевой ионизации, процессам испарения поверхностных атомных слоев с образцов под действием электрического поля. Авторы дают рекомендации по способам исследования в ионном проекторе (автоионном микроскопе) многих чистых металлов и сплавов, тонких пленок и биологических молекул на металлической поверхности. Они излагают методы интерпретации автоионных изображений и анализа разных дефектов по подобным изображениям. Книга предназначается для инженеров, научных работников, аспирантов и студентов, работающих в областях физики твердого тела, кристаллографии, физической электроники, биологии, физико-технических разделов различных технических дисциплин.

Доп.точки доступа:
Мюллер, Э. В.; Саутон, М.; Брэндон, Д.; Мур, А.; Рен, Дж.; Ранганатан, С.; Ральф, Б.; Мелмед, А.; Рен, Дж. \ред.\; Ранганатан, С. \ред.\; Соколов, А. Г. \пер.\; Суворов, А. Л. \пер., авт. послесл.\; Muller, E. W.; Southon, M. J.; Brandon, D. G.
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

11.

   В381.5
   К 69

    Кортуков, Евгений Васильевич.
    Электронно-микроскопическая авторадиография / Е. В. Кортуков, М. Ф. Меркулов. - Москва : Энергоиздат, 1982. - 151, [1] с. : ил., табл. ; 22 см. - 660 экз.. -

29.15.39

29.35.43

58.35

ББК В381.56 + З 42 + Е901.2

Доп.точки доступа:
Меркулов, Михаил Филиппович
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

12.

   В338
   Л 42

    Лейзеганг, З.
    Электронная микроскопия / З. Лейзеганг ; перевод с немецкого Г. В. Дер-Шварца. - Москва : Издательство иностранной литературы, 1960. - 240 с. : ил. -

29.35.43

ББК В338.48

Доп.точки доступа:
Дер-Шварц, Г. В. \пер.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

13.

   В338
   Л 84

    Лукьянович, Всеволод Михайлович.
    Электронная микроскопия в физико-химических исследованиях. Методика и применение / В. М. Лукьянович ; ответственный редактор К. В. Чмутов ; Академия наук СССР, Институт физической химии. - Москва : Издательство АН СССР, 1960. - 271, [2] с., [22] л. фот. : ил. ; 23 см. - 7500 экз.. -

29.35.43

31.15

ББК В338.48 + В372.1

Перейти к внешнему ресурсу: Оглавление
Доп.точки доступа:
Чмутов, К. В. \ред.\; Академия наук СССРИнститут физической химии АН СССР
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

14.

   В37
   К 90

    Кульбачинский, Владимир Анатольевич.
    Физика наносистем : [учебное пособие для вузов по направлению подготовки "Физика" уровней бакалавриата (03.023.02) и магистратуры (03.04.02), специалитета по специальности "Фундаментальная и прикладная физика" (03.05.02)] / В. А. Кульбачинский. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2023. - 699 с. : ил., табл. ; 22 см. - 300 экз.. - ISBN 978-5-9221-1963-4

ББК В372я73 + В371я73 + В338.48я73 + Ж364я73 + Ж6я73 + Л252я73

Аннотация: Учебное пособие написано на основе лекций, которые автор читает на физическом факультете МГУ имени М. В. Ломоносова, в Московском физико-техническом институте (Национальном исследовательском университете), Национальном исследовательском ядерном университете МИФИ (Московском инженерно-физическом институте). В учебном пособии рассматриваются достижения и открытия мировой науки в области физики наносистем, технологии получения и применения низкоразмерных структур. Последовательно излагаются теоретические и экспериментальные основы сканирующей зондовой микроскопии, физики полупроводниковых наноструктур, сверхрешеток, квазикристаллов, низкоразмерных аллотропных модификаций углерода: графена, фуллерена, нанотрубок. Уделяется особое внимание топологическим эффектам в кристаллах, явлениям, связанным с поверхностными и краевыми состояниями в топологических изоляторах и вейловских металлах, квантовой нелокальности, квантовым и тепловым флуктациям в сверхпроводящих системах мезоскопических размеров. Рассматриваются целочисленный и дробный квантовые эффекты Холла, спинтроника, магноника, спиновая калоритроника. Детальное рассмотрение физических основ обсуждаемых явлений и свойств обходится без использования специальных методов теоретической физики, что делает изложение доступным для широкого круга читателей. Предназначается главным образом студентам и аспирантам как учебное пособие по физике наносистем, физике конденсированного состояния, физике низких температур и сверхпроводимости. Будет полезна научным сотрудникам, инженерно-техническим работникам, а также всем интересующимся последними открытиями и достижениями в этих областях.

Перейти к внешнему ресурсу: Оглавление
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)