Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=59.03$<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

   Ж10
   Л 66

    Лич, Ричард.
    Инженерные основы измерений нанометровой точности : [учебное пособие] / Р. Лич ; перевод с английского А. В. Заболоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. ; 22 см. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.)

59.03.05

90.03.03

ББК Ж104я73
Рубрики: Нанометрология
Кл.слова (ненормированные):
нанометровая точность -- микротехнологии -- наномасштаб -- нанотехнологии -- микросистемная техника
Аннотация: Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс

Доп.точки доступа:
Заболоцкий, А. В. \пер.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   К9
   Л 27

    Латыев, Святослав Михайлович.
    Конструирование точных (оптических) приборов : [учебное пособие для студентов вузов по направлениям "Приборостроение", "Оптотехника", "Фотоника и оптоинформатика", "Лазерная техника и лазерные технологии" и специальности "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения"] / С. М. Латыев. - Изд. 2-е, испр. и доп. - Санкт-Петербург[и др.] : Лань, 2015. - 554 с. : ил. ; 24 см. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - 700 экз.. - ISBN 978-5-8114-1734-6

59.41

59.03

ББК К942я73 + К91я73

Кл.слова (ненормированные):
оптические приборы -- точность приборов -- надежность приборов -- методы конструирования приборов -- качество приборов -- оптические детали

Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   К9
   Л 27

    Латыев, Святослав Михайлович.
    Конструирование точных (оптических) приборов / С. М. Латыев. - Санкт-Петербург : Политехника, 2007. - 577, [2] с. : ил. ; 22 см. - (ВУЗ. Учебное пособие для вузов). - Библиогр.: с. 543-544. - 2000 экз.. - ISBN 5-7325-0563-6 (в пер.)

59.41

59.03

ББК К942я73 + К91я73
Рубрики: Оптичкские приборы--Конструирование
Кл.слова (ненормированные):
Оптические приборы - Конструкция и расчет

Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   Ж10
   Б 88

    Бродников, Александр Федорович.
    Оценка погрешности измерений : учебное пособие / А. Ф. Бродников, Н. А. Вихарева, В. Я. Черепанов ; Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, Новосибирский филиал Федерального государственного автономного образовательного учреждения дополнительного профессионального образования "Академия стандартизации, метрологии и сертификации (учебная)". - Новосибирск : Сибпринт, 2016. - 23 с. : табл. ; 21 см. - Библиогр.: с. 23 (8 назв.). - 100 экз.. - ISBN 978-5-94301-650-9
Примечания об особенностях:
Экз. 69142 : Копия ориг.
Экз. 69143 : Копия ориг.
Экз. 69147 : Копия ориг.
Экз. 69148 : Копия ориг.
Есть электронный вариант
Примечания о происхождении:
Экз. 68954 : Дар Бродникова А. Ф.

90.01.33

59.03.05

59.03.09

ББК Ж10я7 + К91я7

Перейти к внешнему ресурсу: Полный текст
Доп.точки доступа:
Вихарева, Надежда Анатольевна; Черепанов, Виктор Яковлевич; Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии; Новосибирский филиал Федерального государственного автономного образовательного учреждения дополнительного профессионального образования "Академия стандартизации, метрологии и сертификации (учебная)"
Экземпляры всего: 5
с.ф. (1), Ч/з (1), кх (3)
Свободны: с.ф. (1), Ч/з (1), кх (3)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)