Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:База ученого секретаря (7)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Климов, А. Э.$<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.

Разработка элементов системы регистрации изображений в терагерцовой области спектра на основе пленок PbSnTe:In/П. С. Галкин [и др.] // Автометрия, 2009. - T. 45, № 4.-С.85-94
2.

Инжекционный ток в PbSnTe:In при освещении излучением терагерцового диапазона длин волн/А. Э. Климов [и др.] // Х Российская конференция по физике полупроводников, Нижний Новгород, 19-23 сентября 2011 г. : тезисы конференции. -Н. Новгород:НГУ им. Лобачевского, 2011.-С.169
3.

Терагерцовое излучение в исследованиях твердого тела, полупроводников, метаматериалов и сверхбыстрой спектроскопии газов/В. В. Кубарев [и др.] // VIII Всероссийский семинар по радиофизике миллиметровых и субмиллиметровых волн, 1 - 4 марта 2011 г., Нижний Новгород : тезисы докладов. -Н. Новгород:ИПФ РАН, 2011.-С.15
4.

Чувствительность плёнок Pb/sub 1-x/ Sn/sub x/ Te в субмиллиметровом диапазоне/А. Н. Акимов [и др.] // Прикладная физика, 2007, № 6.-С.12-17
5.

Климов А.Э. Уровни захвата и терагерцовые фотоэффекты в PbSnTe:In/А. Э. Климов, В. В. Кубарев, В. Н. Шумский // Российская конференция по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых) "ФОТОНИКА - 2015", 12-16 октября 2015 г., Новосибирск : тезисы докладов. -Новосибирск:ИФП им. А.В. Ржанова СО РАН, 2015.-С.33
6.

Фоточувствительность пленок Pb/sub 1-x/ Sn/sub x/ Te(In) в терагерцовой области спектра/А. Н. Акимов [и др.] // Физика и техника полупроводников, 2006. - T. 40, № 2.-С.169-173
7.

Приемники излучения на основе пленок PbSnTe:In, чувствительных в терагерцовой области спектра/И. Г. Неизвестный [и др.] // Автометрия, 2016. - Т. 52, № 5.-С.69-70
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)