Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Препринты (2)База ученого секретаря (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Коваленко, Н. В.$<.>)
Общее количество найденных документов : 35
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-35 
1.

Азимутальная зависимость рентгеновского диффузного рассеяния от многослойных пленок/Н. В. Коваленко [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.89-90
2.

Влияние азимутальной ориентации многослойной дифракционной решетки на когерентное и диффузное рассеяние рентгеновских лучей/В. И. Пунегов [и др.] // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая, 2004. - Т. 68, № 4:Материалы совещания "Рентгеновская оптика-2003", Нижний Новгород, март 2003 г..-С.540-544
3.

Измерение пропускания селективных поглощающих фильтров в диапазоне энергий фотонов от 0.6 до 1.5 кэВ/В. В. Гаганов [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2002, № 11.-С.21-25
4.

Измерение пропускания тонких пленок используемых в методе поглощающих фильтров в диапазоне энергии фотонов от 0.6 до 1.5 КЭВ/В. В. Гаганов [и др.] // III Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов: продолжение Всесоюзного совещания по применению рентгеновских лучей для исследования материалов, Москва, 21-25 мая 2001 г.. -Москва:ИК РАН, 2001.-С.452
5.

Измерение спектральной чувствительности полупроводниковых детекторов с использованием СИ из накопителя ВЭПП-2М в спектральном диапазоне 0.25-1.25 кэВ/В. В. Гаганов [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.289-290
6.

Калибровка золотой пропускающей дифракционной решетки на синхротронном излучении/Н. В. Коваленко [и др.] // Материалы XIV Российской конференции по использованию синхротронного излучения : СИ-2002, Новосибирск,15-19 июля 2002 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2002.-С.142-143
7.

Калибровка пропускающей дифракционной решетки в ультрамягкой рентгеновской области методом аномального рассеяния/А. В. Бессараб [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2002, № 1:Материалы рабочего совещания "Рентгеновская оптика - 2001", 19-22 февраля 2001 г., Нижний Новгород.-С.59-62
8.

Коваленко Н.В. Адиабатический инвариант Рэлея в когерентной рентгеновской дифракции и оптике/Н. В. Коваленко, С. В. Мытниченко, В. А. Чернов // Нанофизика и наноэлектроника : материалы симпозиума, Нижний Новгород, 25-29 марта 2005 г.. -Н. Новгород:Ин-т физики микроструктур РАН, 2005. - T. 2.-С.269-270
9.

Коваленко Н.В. Высокоэффективные фазовые многослойные дифракционные решетки скользящего падения для мягкого и жесткого диапазона спектра рентгеновского излучения/Н. В. Коваленко, С. В. Мытниченко, В. А. Чернов // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.265-266
10.

Коваленко Н.В. Исследование кросс-корреляции шероховатости в многослойном зеркале Ni/C методом рентгеновского диффузного рассеяния/Н. В. Коваленко, С. В. Мытниченко, В. А. Чернов // Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2003. - Т. 124, № 6.-С.1345-1357
 1-10    11-20   21-30   31-35 
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)