Поисковый запрос: (<.>A=Коваленко, Н. В.$<.>) |
Общее количество найденных документов : 35
Показаны документы с 1 по 20 |
|
>1.
| Коваленко Н.В. Адиабатический инвариант Рэлея в когерентной рентгеновской дифракции и оптике/Н. В. Коваленко, С. В. Мытниченко, В. А. Чернов // Нанофизика и наноэлектроника : материалы симпозиума, Нижний Новгород, 25-29 марта 2005 г.. -Н. Новгород:Ин-т физики микроструктур РАН, 2005. - T. 2.-С.269-270
|
>2.
| Азимутальная зависимость рентгеновского диффузного рассеяния от многослойных пленок/Н. В. Коваленко [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.89-90
|
>3.
| Влияние азимутальной ориентации многослойной дифракционной решетки на когерентное и диффузное рассеяние рентгеновских лучей/В. И. Пунегов [и др.] // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая, 2004. - Т. 68, № 4:Материалы совещания "Рентгеновская оптика-2003", Нижний Новгород, март 2003 г..-С.540-544
|
>4.
| Коваленко Н.В. Высокоэффективные фазовые многослойные дифракционные решетки скользящего падения для мягкого и жесткого диапазона спектра рентгеновского излучения/Н. В. Коваленко, С. В. Мытниченко, В. А. Чернов // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.265-266
|
>5.
| Измерение пропускания селективных поглощающих фильтров в диапазоне энергий фотонов от 0.6 до 1.5 кэВ/В. В. Гаганов [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2002, № 11.-С.21-25
|
>6.
| Измерение пропускания тонких пленок используемых в методе поглощающих фильтров в диапазоне энергии фотонов от 0.6 до 1.5 КЭВ/В. В. Гаганов [и др.] // III Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов: продолжение Всесоюзного совещания по применению рентгеновских лучей для исследования материалов, Москва, 21-25 мая 2001 г.. -Москва:ИК РАН, 2001.-С.452
|
>7.
| Измерение спектральной чувствительности полупроводниковых детекторов с использованием СИ из накопителя ВЭПП-2М в спектральном диапазоне 0.25-1.25 кэВ/В. В. Гаганов [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.289-290
|
>8.
| Коваленко Н.В. Исследование кросс-корреляции шероховатости в многослойном зеркале Ni/C методом рентгеновского диффузного рассеяния/Н. В. Коваленко, С. В. Мытниченко, В. А. Чернов // Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2003. - Т. 124, № 6.-С.1345-1357
|
>9.
| Калибровка золотой пропускающей дифракционной решетки на синхротронном излучении/Н. В. Коваленко [и др.] // Материалы XIV Российской конференции по использованию синхротронного излучения : СИ-2002, Новосибирск,15-19 июля 2002 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2002.-С.142-143
|
>10.
| Калибровка пропускающей дифракционной решетки в ультрамягкой рентгеновской области методом аномального рассеяния/А. В. Бессараб [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2002, № 1:Материалы рабочего совещания "Рентгеновская оптика - 2001", 19-22 февраля 2001 г., Нижний Новгород.-С.59-62
|
>11.
| Компактный поляриметр для экспериментов по резонансному рассеянию в мягком рентгеновском диапазоне/Н. В. Коваленко, О. А. Ли, А. Д. Николенко, В. А. Чернов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, № 1:Материалы рабочего совещания "Рентгеновская оптика-99", Нижний Новгород, 1-4 марта 1999 г..-С.115-119
|
>12.
| Коваленко Н.В. Многослойная рентгеновская оптика в Сибирском центре СИ/Н. В. Коваленко, С. В. Мытниченко, В. А. Чернов // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.261-262
|
>13.
| Коваленко Н.В. Многослойные решетки применительно к СИ: теория и эксперимент/Н. В. Коваленко, В. А. Чернов, С. В. Мытниченко // XV Международная конференция по использованию синхротронного излучения : СИ-2004,19-23 июля 2004 г., Новосибирск, Россия. МНТЦ Сессия : программа МНТЦ сессии и сборник тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2004.-С.12
|
>14.
| Обратная задача рентгеновского рассеяния на многослойной дифракционной решетке Ni/C/А. В. Карпов, В. И. Пунегов, С. В. Мытниченко [и др.] // Материалы IV Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-2003), Москва, 17-22 ноября 2003 г. : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН, 2003.-С.337
|
>15.
| Оптика многослойных рентгеновских решеток применительно к СИ/В. И. Ерофеев, Н. В. Коваленко, С. В. Мытниченко [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 1999, № 1:Всероссийское "Рабочее совещание "Рентгеновская оптика", Нижний Новгород, 23-26 февраля 1998 г..-С.124-129
|
>16.
| Оптика многослойных рентгеновских решеток применительно к СИ/В. И. Ерофеев [и др.] // Рентгеновская оптика : материалы Всероссийского совещания, Нижний Новгород, 23-26 февраля 1998 г.. -Нижний Новгород:Ин-т физики микроструктур РАН, 1998.-С.110-116
|
>17.
| Оптимизация режимов и дозы облучения пациентов для получения адекватной рентгенографической информации/С. В. Анищик [и др.] // Поликлиника, 2013, № 3-1.-С.47-55
|
>18.
| Особенности метрологических измерений с использованием многослойной оптики на синхротронном излучении в мягком рентгеновском диапазоне (80-1500 эВ)/Н. В. Коваленко [и др.] // Нанофизика и наноэлектроника : материалы симпозиума, Нижний Новгород, 25-29 марта 2005 г.. -Н. Новгород:Ин-т физики микроструктур РАН, 2005. - T. 2.-С.502-503
|
>19.
| Относительная калибровка спектральной характеристики полупроводниковых детекторов/П. Н. Аруев [и др.] // Digest reports of the XVII International Synchrotron Radiation Conference : SR-2008, Novosibirsk, Russia, 15-20 June 2008. -Novosibirsk:BINP SB RAS, 2008.-С.1-22
|
>20.
| Предварительная калибровка полупроводниковых детекторов в области ВУФ и мягкого рентгена на синхротронном излучении из накопителя ВЭПП-4 /П. Н. Аруев [и др.] // Нанофизика и наноэлектроника : [Труды XII Международного симпозиума, 10-14 марта 2008 г., Нижний Новгород]. -Н. Новгород, 2008. - Т. 1.-С.217
|
|
|