Поисковый запрос: (<.>A=Кривенцов, В. В.$<.>) |
Общее количество найденных документов : 41
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Способы улучшения метрологических характеристик рентгенофлуоресцентного анализа/А. В. Сидорина [и др.] // ХХ Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014", 7-10 июля 2014 г., Новосибирск : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2014.-С.88
|
2.
| Структурное исследование светоизлучающих нанокомпозитов на основе ZnS:Cu, осажденных методом взрывного испарения в матрицы пористого анодного Al2O3/А. Н. Бельтюков [и др.] // Журнал структурной химии, 2016. - Т. 57, № 7:Применение синхротронного излучения в структурной химии.-С.1496-1500
|
3.
| Кривенцов В.В. Первые результаты использования многоэлементного ППД для флуоресцентной XAFS спектроскопии в Сибирском центре СИ/В. В. Кривенцов, В. А. Чернов, К. В. Золотарев // XVIII Международная конференция по использованию синхротронного излучения: СИ - 2010, Новосибирск, 19 - 22 июля 2010 г. : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2010.-С.37
|
4.
| Синтез и исследование структуры упорядоченных массивов наноточек ZnSe/Р. Г. Валеев [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2010, № 8.-С.31-34
|
5.
| μ-XAFS исследование микрочастиц Сихотэ-Алиньского метеорита/Д. С. Сороколетов [и др.] // XI конференция молодых ученых "КоМУ-2018", Ижевск, 15-19 октября 2018 г. : сборник тезисов докладов. -Ижевск, 2018.-С.94-95
|
6.
| Комплексное исследование тестовых образцов, для развития комбинированных методов СИ, перспективных для изучения микрообъектов/Д. С. Сороколетов [и др.] // XI конференция молодых ученых "КоМУ-2018", Ижевск, 15-19 октября 2018 г. : сборник тезисов докладов. -Ижевск, 2018.-С.95-96
|
7.
| Локальная атомная структура пленок селенида цинка по данным EXAFS спектроскопии/Р. Г. Валеев [и др.] // Журнал структурной химии, 2008. - Т. 49, № 7:Рентгеновская и рентгеноэлектронная спектроскопия.-С.S125-S129
|
8.
| Исследование атомной структуры тонких нанокомпозитных пленок ZnS методом EXAFS спектроскопии/Р. Г. Валеев [и др.] // Журнал структурной химии, 2011. - Т. 52, № 7:Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь.-С.S184-S188
|
9.
| Синтез и исследование структуры массивов наноструктур арсенида галлия/Р. Г. Валеев [и др.] // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая, 2013. - Т. 77, № 9:Материалы XIX Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2012" и Всероссийской молодежной конференции "Использование синхротронного излучения".-С.1323-1326
|
10.
| Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al₂O₃/Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013.-С.268
|
11.
| Сравнительное EXAFS исследование полупроводниковых нанокомпозитов различной природы на основе ZnS и ZnSe/Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013.-С.267
|
12.
| Валеев Р.Г. EXAFS-исследование перспективного полупроводникового материала Ga₂Se₃/Р. Г. Валеев, В. В. Кривенцов, Н. А. Мезенцев // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая, 2013. - Т. 77, № 9:Материалы XIX Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2012" и Всероссийской молодежной конференции "Использование синхротронного излучения".-С.1320-1322
|
13.
| Синтез и исследование структуры упорядоченных массивов нанонитей германия/В. В. Кривенцов [и др.] // Журнал структурной химии, 2010. - T. 51, № 7:Методы исследования состава и структуры функциональных материалов.-С.S135-S139
|
14.
| XAFS - исследование ZNS-ZNSE полупроводниковых наноструктур/Р. Г. Валеев [и др.] // ХХ Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014", 7-10 июля 2014 г., Новосибирск : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2014.-С.107
|
15.
| XAFS - исследование модифицированных оксидов циркония/В. В. Кривенцов, Э. М. Мороз, И. С. Саенко, А. Л. Удовский // 3-я Всероссийская конференция "Методы Исследования Состава и Структуры Функциональных Материалов" МИССФМ-2020, Новосибирск, 1-4 сентября 2020 : Сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2020.-С.346-347
|
16.
| XAFS - исследование нанокомпозитных модельных металл-углеродных катализаторов/В. В. Кривенцов, А. М. Володин, С. Ю. Троицкий [и др.] // 3-я Всероссийская конференция "Методы Исследования Состава и Структуры Функциональных Материалов" МИССФМ-2020, Новосибирск, 1-4 сентября 2020 : Сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2020.-С.349
|
17.
| Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах/Р. Г. Валеев [и др.] // ХХ Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014", 7-10 июля 2014 г., Новосибирск : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2014.-С.106
|
18.
| Изготовление и исследование зеркал с широкой полосой пропускания для синхротронных применений/А. А. Ахсахалян, С. А. Гарахин, Ф. А. Дарьин [и др.] // Журнал технической физики, 2021. - Т. 91, № 10:XXV Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород, 9-12 марта 2021 г..-С.1524-1531
|
19.
| Исаев Д.Д. Спектроскопические и дифрактометрические исследования легированных титановых слоев, сформированных вневакуумной электронно-лучевой наплавкой, после коррозионных испытаний/Д. Д. Исаев, В. В. Кривенцов, М. Г. Голковский // Материалы XIII Школы-конференции молодых ученых "КоМУ-2021", Ижевск, 18-22 октября 2021 г.. -Ижевск:УдмФИЦ УрО РАН, 2021.-С.87-89
|
20.
| Кривенцов В.В. Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии в ЦКП "СЦСТИ"/В. В. Кривенцов // XII Конференция молодых ученых "КоМУ-2020" : сборник статей по материалам Международного научно-практического форума "100-летие государственности Удмуртии: исторические вехи и перспективы развития", Ижевск, 15 октября 2020 г.. -Ижевск:УдмФИЦ УрО РАН, 2020. - Т. 2, Ч. 2.-С.9-10
|
|
|
|
Авторефераты диссертаций и диссертации
Стандартный
Главная
Описание
