Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска
Авторефераты диссертаций и диссертации
Отечественные журналы
Препринты
Электронный каталог книг и продолжающихся изданий
База ученого секретаря
Пресса об ИЯФ
Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Препринты (1)Электронный каталог книг и продолжающихся изданий (1)База ученого секретаря (8)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Назьмов, В. П.$<.>)
Общее количество найденных документов : 65
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-60   61-65 
1.

Фотохимия ориентированных слоев фталоцианина меди в рентгеновском диапазоне длин волн/В. А. Надолинный, Е. Ф. Резникова, П. П. Семянников [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследований материалов, Дубна - Москва, 25 - 29 мая 1997 г. : сборник докладов. -Дубна:ОИЯИ, 1997. - T. 1.-С.243-250
2.

Аттестация геометрической прозрачности регулярных микропористых мембран, получаемых с помощью глубокой рентгенолитографии/Б. Г. Гольденберг, Г. Н. Кулипанов, В. П. Назьмов, В. Ф. Пиндюрин // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.569
3.

Использование глубокой рентгеновской литографии для повышения пространственного разрешения рентгенолюминофорных экранов/В. И. Кондратьев, М. В. Кузин, Г. Н. Кулипанов [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.566
4.

Аттестация геометрической прозрачности регулярных микропористых мембран, получаемых с помощью глубокой рентгенолитографии/Б. Г. Гольденберг, Г. Н. Кулипанов, В. П. Назьмов, В. Ф. Пиндюрин // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследований материалов, Дубна - Москва, 25 - 29 мая 1997 г. : сборник докладов. -Дубна:ОИЯИ, 1997. - T. 3.-С.351-356
5.

Модернизация LIGA-станции на накопителе ВЭПП-3/А. Н. Генцелев, В. Н. Корчуганов, Г. Н. Кулипанов [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследований материалов, Дубна - Москва, 25 - 29 мая 1997 г. : сборник докладов. -Дубна:ОИЯИ, 1997. - T. 3.-С.345-350
6.

Формирование микропористых структур в лавсановых пленках толщиной 3÷100 мкм с использованием СИ/А. И. Анчаров, Г. Н. Кулипанов, Л. А. Мезенцева [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследований материалов, Дубна - Москва, 25 - 29 мая 1997 г. : сборник докладов. -Дубна:ОИЯИ, 1997. - T. 3.-С.333-338
7.

Мишнев С.И. Фототравление органического стекла под действием синхротронного излучения/С. И. Мишнев, В. П. Назьмов // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.576
8.

Фотохимия ориентированных слоев фталоцианина меди в рентгеновском диапазоне длин волн/Е. Ф. Резникова, В. А. Надолинный, П. П. Семянников [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.131
9.

Предварительные результаты калибровок полупроводниковых детекторов в мягком рентгеновском диапазоне на синхротронном излучении на накопителе ВЭПП-2М/К. Э. Купер, В. В. Лях, В. П. Назьмов [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.612
10.

Использование рентгеновской литографии для создания дифракционных оптических элементов с глубоким фазовым профилем/В. П. Коронкевич, Г. Н. Кулипанов, О. А. Макаров [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.570
11.

Назьмов В.П. Температура поверхности толстого слоя ПММА в процессе экспонирования синхротронным излучением/В. П. Назьмов, Е. Ф. Резникова // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.575
12.

Формирование микропористых структур в лавсановых пленках толщиной 3÷100 мкм с использованием синхротронного излучения/А. И. Анчаров, Г. Н. Кулипанов, Л. А. Мезенцева [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.574
13.

Назьмов В.П. Фототравление органического стекла под действием синхротронного излучения/В. П. Назьмов, С. И. Мишнев // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 1998, № 11.-С.45-50
14.

Назьмов В.П. Исследование радиационно-индуцированной температуры толстых полимерных слоев, находящихся под действием синхротронного излучения/В. П. Назьмов, В. Ф. Пиндюрин, В. А. Василенко // Вторая национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999 г. : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН, 1999.-С.422
15.

Исследование абляции политетрафторэтилена под действием синхротронного излучения при изготовлении микроструктур с высоким аспектным отношением/Л. А. Мезенцева, В. П. Назьмов, В. Ф. Пиндюрин, В. Е. Истомин // Вторая национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999 г. : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН, 1999.-С.421
16.

Синхротронное излучение для метрологии/Б. Г. Гольденберг, Э. И. Зинин, Г. Н. Кулипанов [и др.] // Вторая национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999 г. : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН, 1999.-С.389
17.

Исследование шероховатости поверхности микроструктур в глубокой рентгенолитографии/В. П. Назьмов, В. П. Коронкевич, Л. А. Мезенцева [и др.] // Вторая национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999 г. : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН, 1999.-С.423
18.

Новый метод для измерений динамической плотности остаточного газа в криогенных системах современных суперколлайдеров/В. В. Анашин [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.48
19.

Станция LIGA с применением СИ из специализированного вигглера/А. Н. Генцелев [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.77-78
20.

Юрьев Г.С. Особенности структуры микрокристаллов c-BN, α-Si₃N₄, c-SiC на подложках (100)Si/Г. С. Юрьев, В. П. Назьмов, М. А. Корчагин // Физикохимия ультрадисперсных систем. Материалы V Всероссийской конференции, Екатеринбург, 9-13 октября 2000 г.. -М.:МИФИ, 2000.-С.390-391
 1-20    21-40   41-60   61-65 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)