Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Препринты (1)Электронный каталог книг и продолжающихся изданий (1)База ученого секретаря (51)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Николенко, А. Д.$<.>)
Общее количество найденных документов : 99
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

Предварительные результаты калибровок полупроводниковых детекторов в мягком рентгеновском диапазоне на синхротронном излучении на накопителе ВЭПП-2М/К. Э. Купер, В. В. Лях, В. П. Назьмов [и др.] // Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Москва-Дубна, 25-29 мая 1997 г. : [тезисы докладов]. -Москва, 1997.-С.612
2.

Спектрометры на основе многослойных рентгеновских зеркал для диагностики высокотемпературной плазмы/Э. П. Кругляков [и др.] // Рентгеновская оптика : материалы Всероссийского совещания, Нижний Новгород, 23-26 февраля 1998 г.. -Нижний Новгород:Ин-т физики микроструктур РАН, 1998.-С.117-123
3.

Аттестация двухзеркального монохроматора УМР-диапазона на станции метрологии накопителя ВЭПП-2М/Н. Г. Гаврилов, А. Г. Легкодымов, А. Д. Николенко [и др.] // Вторая национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999 г. : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН, 1999.-С.400
4.

Синхротронное излучение для метрологии/Б. Г. Гольденберг, Э. И. Зинин, Г. Н. Кулипанов [и др.] // Вторая национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99), Москва, 23-27 мая 1999 г. : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН, 1999.-С.389
5.

Спектрометры на основе многослойных рентгеновских зеркал для диагностики высокотемпературной плазмы/Э. П. Кругляков, А. Д. Николенко, Е. П. Семенов [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 1999, № 1:Всероссийское "Рабочее совещание "Рентгеновская оптика", Нижний Новгород, 23-26 февраля 1998 г..-С.151-154
6.

Двухзеркальный монохроматор ультрамягкого рентгеновского диапазона станции метрологии ВЭПП-2М с использованием многослойных зеркал/Н. Г. Гаврилов, А. Г. Легкодымов, А. Д. Николенко [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, № 1:Материалы рабочего совещания "Рентгеновская оптика-99", Нижний Новгород, 1-4 марта 1999 г..-С.129-131
7.

Измерение спектральной чувствительности полупроводниковых детекторов с использованием СИ из накопителя ВЭПП-2М в спектральном диапазоне 0.25-1.25 кэВ/В. В. Гаганов [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.289-290
8.

Компактный поляриметр для экспериментов по резонансному рассеянию в мягком рентгеновском диапазоне/Н. В. Коваленко, О. А. Ли, А. Д. Николенко, В. А. Чернов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, № 1:Материалы рабочего совещания "Рентгеновская оптика-99", Нижний Новгород, 1-4 марта 1999 г..-С.115-119
9.

Измерение временных характеристик полупроводниковых детекторов на синхротронном излучении из накопителя ВЭПП-2М в диапазоне энергий фотонов (0.25÷1.25) кэВ/Б. Г. Гольденберг [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.286-287
10.

Сибирский центр синхротронного излучения: направления и результаты/А. И. Анчаров [и др.] // Материалы XIII Российской конференции по использованию синхротронного излучения, Новосибирск, 17-21 июля 2000 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2000.-С.5-9
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)