Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Препринты (1)База ученого секретаря (48)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Ракшун, Я. В.$<.>)
Общее количество найденных документов : 139
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

Природная периодичность системы седиментации озера Телецкое (Горный Алтай) за последние 2000 лет по данным высокоразрешающего сканирующего микроанализа на пучках синхротронного излучения из накопителя ВЭПП-3 (ИЯФ СО РАН)/А. В. Дарьин [и др.] // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая, 2013. - Т. 77, № 9:Материалы XIX Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2012" и Всероссийской молодежной конференции "Использование синхротронного излучения".-С.1359-1362
2.

Дарьин А.В. Методика выполнения измерений при определении элементного состава образцов горных пород методом рентгенофлуоресцентного анализа с использованием синхротронного излучения из накопителя ВЭПП-3/А. В. Дарьин, Я. В. Ракшун // Научный вестник НГТУ, 2013, № 2(51).-С.112-118
3.

Дарьин А.В. Методика выполнения измерений при проведении рентгенофлуоресцентного анализа с использованием рентгеновской концентрирующей оптики (поликапилярные линзы)/А. В. Дарьин, Я. В. Ракшун // Научный вестник НГТУ, 2013, № 2(51).-С.119-129
4.

Воспроизводимость РФА СИ на стандартных образцах состава донных отложений и растительности Прибайкалья/Ю. Н. Маркова [и др.] // XVIII Международная конференция по использованию синхротронного излучения: СИ - 2010, Новосибирск, 19 - 22 июля 2010 г. : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2010.-С.137
5.

Дарьин А.В. Сканирующий рентгенофлуоресцентный микроанализ природных образцов с использованием синхротронного излучения (СИ) из накопителя ВЭПП-3 ИЯФ СО РАН и фокусирующей рентгеновской оптики/А. В. Дарьин, Я. В. Ракшун // Школа молодых специалистов "Синхротронное излучение в науках о Земле", Новосибирск, ИЯФ СО РАН, СЦСТИ, 11-15 октября 2010 г. : сборник лекций. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера, 2010.-С.8-15
6.

Ракшун Я.В. Экспериментальный модуль станции мягкой рентгеновской спектроскопии/Я. В. Ракшун, М. А. Холопов, В. А. Чернов // XVIII Международная конференция по использованию синхротронного излучения: СИ - 2010, Новосибирск, 19 - 22 июля 2010 г. : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2010.-С.27
7.

RFA station upgrade/Я. В. Ракшун [et al.] // XVIII Международная конференция по использованию синхротронного излучения: СИ - 2010, Новосибирск, 19 - 22 июля 2010 г. : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2010.-С.40
8.

Дарьин А.В. Аналитическая микростратиграфия с использованием синхротронного излучения/А. В. Дарьин, И. А. Калугин, Я. В. Ракшун // VIII Национальная конференция "Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов. Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии" : РСНЭ - НБИК 2011 : продолжение Всесоюзных совещаний по применению рентгеновских лучей для исследования материалов, Москва, 14 - 18 ноября, 2011 : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН - НИЦ КИ, 2011.-С.536
9.

Аналитическая микростратиграфия с использованием сканирующего микроанализа на пучках синхротронного излучения/А. В. Дарьин [и др.] // VII Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу: тезисы докладов, Новосибирск, 19 - 23 сентября 2011 г. -Новосибирск:Изд-во СО РАН, 2011.-С.165
10.

Аппаратурно-методический комплекс для исследований методом рентгеновской спектроскопии поглощения в мягком рентгеновском диапазоне/Я. В. Ракшун [и др.] // VIII Национальная конференция "Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов. Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии" : РСНЭ - НБИК 2011 : продолжение Всесоюзных совещаний по применению рентгеновских лучей для исследования материалов, Москва, 14 - 18 ноября, 2011 : тезисы докладов. -Москва:ИК РАН - НИЦ КИ, 2011.-С.551
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)