Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Электронный каталог книг и продолжающихся изданий (7)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ВЫСОКОСКОРОСТНАЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10
1.

Мешков О.И. Измерение поперечных размеров пучка/О. И. Мешков, С. С. Попов, В. В. Смалюк // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.6-18
2.

Мешков О.И. Измерение при помощи камеры-обскуры/О. И. Мешков, С. С. Попов, В. В. Смалюк // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.19-24
3.

Мешков О.И. Интерферометрические измерения/О. И. Мешков, С. С. Попов, В. В. Смалюк // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.25-34
4.

Мешков О.И. Измерение продольного распределения профиля плотности пучка с помощью диссектора и стрик-камеры/О. И. Мешков, С. С. Попов, В. В. Смалюк // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.35-45
5.

Об эффективности применения пикосекундных стрик-камер для изучения синхротронного излучения/А. К. Верещагин [и др.] // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.48-56
6.

Методы неразрушающей диагностики пучков заряженных частиц в ускорителях/П. В. Логачев [и др.] // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.65-120
7.

Лазерная диагностика пикосекундных стрик-трубок с люминесцентными экранами из быстрых люминофоров/К. А. Верещагин [и др.] // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.134-141
8.

О времени затухания люминесцентных экранов пикосекундных ЭОП при регистрации повторяющихся сигналов в режиме накопления/К. А. Верещагин [и др.] // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.142-146
9.

Direct temporal-resolution calibration of new-generation dissector/E. I. Zinin [et al.] // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.147-153
10.

Калибровка пикосекундного электронно-оптического диссектора/О. В. Анчугов [и др.] // Высокоскоростная фотоэлектронная регистрация изображений. -Москва:ФИЗМАТЛИТ, 2017. - Кн. 3:Сверхскоростная электронно-оптическая диагностика в физике ускорителей элементарных частиц.-С.184-193
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)