Поисковый запрос: (<.>K=EXAFS<.>) |
Общее количество найденных документов : 43
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Локальная атомная структура пленок селенида цинка по данным EXAFS спектроскопии/Р. Г. Валеев [и др.] // Журнал структурной химии, 2008. - Т. 49, № 7:Рентгеновская и рентгеноэлектронная спектроскопия.-С.S125-S129
|
2.
| Микроструктура многослойных гетеросистем, содержащих молекулы из квантовых точек Ge в Si, на этапах их зарождения и роста по EXAFS спектрам/С. Б. Эренбург [и др.] // Журнал структурной химии, 2016. - Т. 57, № 7:Применение синхротронного излучения в структурной химии.-С.1485-1495
|
3.
| Применение многослойного двухзеркального монохроматора синхротронного излучения для EXAFS-спектроскопии соединений фтора/Н. В. Коваленко [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2002, № 1:Материалы рабочего совещания "Рентгеновская оптика - 2001", 19-22 февраля 2001 г., Нижний Новгород.-С.63-66
|
4.
| Исследование атомной структуры тонких нанокомпозитных пленок ZnS методом EXAFS спектроскопии/Р. Г. Валеев [и др.] // Журнал структурной химии, 2011. - Т. 52, № 7:Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь.-С.S184-S188
|
5.
| Сравнительное EXAFS исследование полупроводниковых нанокомпозитов различной природы на основе ZnS и ZnSe/Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013.-С.267
|
6.
| Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al₂O₃/Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013.-С.268
|
7.
| Валеев Р.Г. EXAFS-исследование перспективного полупроводникового материала Ga₂Se₃/Р. Г. Валеев, В. В. Кривенцов, Н. А. Мезенцев // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая, 2013. - Т. 77, № 9:Материалы XIX Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2012" и Всероссийской молодежной конференции "Использование синхротронного излучения".-С.1320-1322
|
8.
| Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах/Р. Г. Валеев [и др.] // ХХ Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014", 7-10 июля 2014 г., Новосибирск : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2014.-С.106
|
9.
| Кривенцов В.В. Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии в ЦКП "СЦСТИ"/В. В. Кривенцов // XII Конференция молодых ученых "КоМУ-2020" : сборник статей по материалам Международного научно-практического форума "100-летие государственности Удмуртии: исторические вехи и перспективы развития", Ижевск, 15 октября 2020 г.. -Ижевск:УдмФИЦ УрО РАН, 2020. - Т. 2, Ч. 2.-С.9-10
|
10.
| A step-wise tapered undulator for the quick-EXAFS beamline at the Siberian circular photon source/A. Trebushinin, S. Serkez, M. Veremchuk [et al.] // Synchrotron and Free electron laser Radiation: generation and application (SFR-2020), 13-16 July 2020, Budker INP, Novosibirsk : book of abstracts. -Novosibirsk:BINP SB RAS, 2020.-С.38
|
|
|
|
Авторефераты диссертаций и диссертации
Стандартный
Главная
Описание
