Поисковый запрос: (<.>K=EXAFS<.>) |
Общее количество найденных документов : 43
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Трубина С.В. Структурные характеристики аморфного K-Bi-цитрата (Де-Нола) и его водных растворов по EXAFS спектрам/С. В. Трубина, С. Б. Эренбург, Ю. М. Юхин // Современная химическая физика: XXVIII Симпозиум: ТУАПСЕ 2016, пансионат "Маяк", Туапсе, 19-30 сентября 2016 г. : сборник аннотаций, 2016.-С.123
|
2.
| Сравнительное EXAFS исследование полупроводниковых нанокомпозитов различной природы на основе ZnS и ZnSe/Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013.-С.267
|
3.
| Применение многослойного двухзеркального монохроматора синхротронного излучения для EXAFS-спектроскопии соединений фтора/Н. В. Коваленко [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2002, № 1:Материалы рабочего совещания "Рентгеновская оптика - 2001", 19-22 февраля 2001 г., Нижний Новгород.-С.63-66
|
4.
| Применение многослойного двухзеркального монохроматора СИ для EXAFS-спектроскопии соединений фтора/Н. В. Коваленко [и др.] // Материалы XIV Российской конференции по использованию синхротронного излучения : СИ-2002, Новосибирск,15-19 июля 2002 г.. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2002.-С.56
|
5.
| Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах/Р. Г. Валеев [и др.] // ХХ Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014", 7-10 июля 2014 г., Новосибирск : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2014.-С.106
|
6.
| Микроструктура многослойных гетеросистем, содержащих молекулы из квантовых точек Ge в Si, на этапах их зарождения и роста по EXAFS спектрам/С. Б. Эренбург [и др.] // Журнал структурной химии, 2016. - Т. 57, № 7:Применение синхротронного излучения в структурной химии.-С.1485-1495
|
7.
| Микроструктура многослойных гетеросистем, содержащих молекулы из квантовых точек Ge в Si, а этапах их зарождения и роста по EXAFS спектрам/С. Б. Эренбург, С. В. Трубина, В. А. Зиновьев [и др.] // Современная химическая физика: XXVIII Симпозиум: ТУАПСЕ 2016, пансионат "Маяк", Туапсе, 19-30 сентября 2016 г. : сборник аннотаций, 2016.-С.142
|
8.
| Локальная атомная структура пленок селенида цинка по данным EXAFS спектроскопии/Р. Г. Валеев [и др.] // Журнал структурной химии, 2008. - Т. 49, № 7:Рентгеновская и рентгеноэлектронная спектроскопия.-С.S125-S129
|
9.
| Аверкиев И.К. Комплексное исследование локальной атомной структуры методами EXAFS- и EXELFS-спектроскопии/И. К. Аверкиев, В. В. Кривенцов ; рук. работы О. Р. Бакиева // ВНКСФ – 27: Двадцать седьмая Всероссийская научная конференция студентов-физиков и молодых учёных, Екатеринбург, 3-6 апреля 2023 г. : материалы конференции, информационный бюллетень. -Екатеринбург:Изд-во АСФ России, 2023.-С.125
|
10.
| Кривенцов В.В. Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии в ЦКП "СЦСТИ"/В. В. Кривенцов // XII Конференция молодых ученых "КоМУ-2020" : сборник статей по материалам Международного научно-практического форума "100-летие государственности Удмуртии: исторические вехи и перспективы развития", Ижевск, 15 октября 2020 г.. -Ижевск:УдмФИЦ УрО РАН, 2020. - Т. 2, Ч. 2.-С.9-10
|
|
|
|
Авторефераты диссертаций и диссертации
Стандартный
Главная
Описание
