Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Препринты (7)Электронный каталог книг и продолжающихся изданий (2)База ученого секретаря (12)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=EXAFS<.>)
Общее количество найденных документов : 43
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-43 
1.

Валеев Р.Г. EXAFS-исследование перспективного полупроводникового материала Ga₂Se₃/Р. Г. Валеев, В. В. Кривенцов, Н. А. Мезенцев // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая, 2013. - Т. 77, № 9:Материалы XIX Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2012" и Всероссийской молодежной конференции "Использование синхротронного излучения".-С.1320-1322
2.

Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al₂O₃/Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013.-С.268
3.

Сравнительное EXAFS исследование полупроводниковых нанокомпозитов различной природы на основе ZnS и ZnSe/Р. Г. Валеев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. -Новосибирск:Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013.-С.267
4.

Исследование локальной структуры тонких нанокомпозитных плёнок и наноструктур на остнове ZnSe и ZNS методом EXAFS/Р. Г. Валеев [и др.] // 13-й Международный симпозиум "Порядок, беспорядок и свойства оксидов", ODPO - 2010, Ростов-на-Дону - п. Лоо, 16 - 21 сентября 2010 г. : труды симпозиума. -Ростов-на-Дону:СКНЦ ВШ ЮФУ АПСН, 2010. - Т. 1.-С.213
5.

Менушенков А.П. EXAFS-спектроскопия квазикристаллов/А. П. Менушенков, Я. В. Ракшун // Кристаллография, 2007. - T. 52, № 6.-С.1042-1050
6.

Menushenkov A.P. EXAFS spectroscopy of quasicrystals/A. P. Menushenkov, Ya. V. Rakshun // Crystallography Reports, 2007. - Vol. 52, Is. 6:II All-Russia Conference on Quasicrystals, Kurchatov Inst., Russian Res. Ctr, Moscow, Russia, 8-9 June 2006.-С.1006-1013
7.

Исследование короткопериодных CR/SC многослойных зеркал методом EXAFS спектроскопии/Я. В. Ракшун [и др.] // Digest reports of the XVII International Synchrotron Radiation Conference : SR-2008, Novosibirsk, Russia, 15-20 June 2008. -Novosibirsk:BINP SB RAS, 2008.-С.7-7
8.

EXAFS and XPS studies of germanium and gallium arsenide nanostructures in porous aluminum oxide matrices/R. G. Valeev [et al.] // Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, 2015. - Vol. 79, Is. 1:Proceedings of the 20th National Conference on the use of synchrotron radiation "SR-2014" and the National Youth Conference "Using synchrotron radiation" (Novosibirsk, 7-10 July 2014).-С.144-148
9.

EXAFS- и РФЭС-исследование наноструктур германия и арсенида галлия в матрицах пористого оксида алюминия/Р. Г. Валеев [и др.] // Известия Российской Академии Наук. Серия физическая, 2015. - Т. 79, № 1:Материалы ХХ Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2014" (Новосибирск, 7-10 июля 2014 г.).-С.160-164
10.

Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах/Р. Г. Валеев [и др.] // ХХ Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014", 7-10 июля 2014 г., Новосибирск : книга тезисов. -Новосибирск:ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2014.-С.106
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-43 
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)