Институт ядерной физики СО РАН

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска

Авторефераты диссертаций и диссертации

Отечественные журналы

Препринты

Электронный каталог книг и продолжающихся изданий

База ученого секретаря

Пресса об ИЯФ

Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Klinkenberg, E. -D.$<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Klinkenberg, E. -D.
Reflectivity measurements of thin SiO₂ layers in the soft-X-ray region / E. D. Klinkenberg, P. P. Illinsky // Crystal Research and Technology. - 1988. - Vol. 23, Is. 9 : 22th Annual Meeting of the Vereinigung fur Kristallographie der DDR, Halle, 24-26 February 1988. - P. 1193-1199. - DOI 10.1002/crat.2170230926. - Bibliogr.: 1 ref.

Перейти к внешнему ресурсу: Scopus,
Перейти к внешнему ресурсу: Wiley

Доп.точки доступа:
Illinsky, P.P.; Annual Meeting of the Vereinigung fur Kristallographie der DDR (22 ; 24-26 February 1988 ; Halle)

Найти похожие

Reflectivity measurements of thin SiO2 layers in the far VUV region / E. -D. Klinkenberg, W. Blau, P. P. Illinsky, E. S. Gluskin // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Sec. A. - 1987. - Vol. 261, Is. 1-2. - P. 140-143. - DOI 10.1016/0168-9002(87)90582-1. - Bibliogr.: 10 ref.

Перейти к внешнему ресурсу: Scopus,
Перейти к внешнему ресурсу: Science Direct

Доп.точки доступа:
Klinkenberg, E.-D.; Blau, W.; Illinsky, P.P.; Gluskin, E.S.

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)