Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Бургуэн, Жак$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Б 91
Автор(ы) : Бургуэн, Жак, Ланно, Мишель
Заглавие : Точечные дефекты в полупроводниках: экспериментальные аспекты
Выходные данные : М.: Мир, 1985
Колич.характеристики :304 с.: ил.
Перевод издания: Bourgoin J. Point defects in semiconductors/ J. Bourgoin, Michel Lannoo
Примечания : Библиогр.: с. 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300
Цена : 2.70 р.
ГРНТИ : 29.19.31
ББК : В379.2
Предметные рубрики: Полупроводники-- Дефекты
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Л 22
Автор(ы) : Ланно, Мишель, Бургуэн, Жак
Заглавие : Точечные дефекты в полупроводниках: теория
Выходные данные : Москва: Мир, 1984
Колич.характеристики :263 с
Перевод издания: Lannoo M. Point Defects in Semiconductors. Theoretical aspects/ M. Lannoo, J. Bourgoin. -Berlin, 1981
Примечания : Библиография: с. 248-253. - Предметный указатель: с. 254-259 :
ГРНТИ : 29.19.31
ББК : В371.23
Содержание : Атомная конфигурация точечных дефектов ; Теория эффективной массы ; Простая теория глубоких уровней в полупроводниках ; Многоэлектронные эффекты и более сложные теории глубоких уровней ; Колебательные свойства и энтропия ; Термодинамика дефектов ; Миграция и диффузия дефектов
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)