Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
Регистрация
Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Базы данных
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска
Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный
информационный
краткий
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>A=Бургуэн, Жак$<.>)
Общее количество найденных документов
:
2
Показаны документы
с 1 по 2
1.
В37
Л 22
Ланно, Мишель
.
Точечные дефекты в полупроводниках: теория / М. Ланно, Ж.
Бургуэн
; пер. с англ. Ю. М. Гальперина, В. И. Козуба, Э. Б. Сонина, под ред. В. Л. Гуревича. - Москва : Мир, 1984. - 263 с. - Библиография: с. 248-253. - Предметный указатель: с. 254-259. -
Пер. изд. :
Point Defects in Semiconductors. Theoretical aspects / M. Lannoo, J. Bourgoin. - Berlin, 1981. - 3400 экз. - 2.30 р.
Содержание:
Атомная конфигурация точечных дефектов
Теория эффективной массы
Простая теория глубоких уровней в полупроводниках
Многоэлектронные эффекты и более сложные теории глубоких уровней
Колебательные свойства и энтропия
Термодинамика дефектов
Миграция и диффузия дефектов
ГРНТИ
29.19.31
ББК
В371.23
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Бургуэн
,
Жак
; Гальперин, Юрий Мануилович \пер.\; Козуб, В. И. \пер.\; Сонин, Э. Б. \пер.\; Гуревич, Валерий Лазаревич \ред.\; Lannoo, M. ; Bourgoin, J.
Экземпляры всего:
1
КФ (1)
Свободны:
КФ (1)}
Найти похожие
2.
В37
Б 91
Бургуэн
,
Жак
.
Точечные дефекты в полупроводниках: экспериментальные аспекты / Ж.
Бургуэн
, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др. ; [пер.] под ред. В. Л. Гуревича. - М. : Мир, 1985. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с. 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300. -
Пер. изд. :
Point defects in semiconductors / J. Bourgoin, M. Lannoo. - 2.70 р.
ГРНТИ
29.19.31
ББК
В379.2
Рубрики:
Полупроводники--Дефекты
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Ланно, Мишель; Гальперин, Ю. М. \пер.\; Гуревич, В. Л. \ред.\; Bourgoin, J. ; Lannoo, Michel
Экземпляры всего:
2
КФ (2)
Свободны:
КФ (2)}
Найти похожие
полный формат
краткий формат
все найденные
отмеченные
кроме отмеченных
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Другие библиотеки
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)