Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Вишняков, Яков Дмитриевич$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/В 55
Автор(ы) : Вишняков, Яков Дмитриевич
Заглавие : Дефекты упаковки в кристаллической структуре
Выходные данные : М.: Металлургия, 1970
Колич.характеристики :215 с
Примечания : Библиогр.: 281 назв.
Цена : 1.48 р.
ГРНТИ : 29.19.11
ББК : В371.231
Предметные рубрики: Кристаллы-- Дефекты
Кристаллы-- Свойства механические
Деформация пластическая-- Материалы-- Дефекты
Материалы-- Структура-- Дефекты
Металлы-- Структура-- Дефекты
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/В 55
Автор(ы) : Вишняков, Яков Дмитриевич
Заглавие : Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов
Выходные данные : М.: Металлургия, 1975
Колич.характеристики :479 с.: рис., схем., табл.
Примечания : Библиогр.: с. 465-475 . - Предм. указ.: с. 476-479
Цена : 2.70 р.
ГРНТИ : 29.19.04
ББК : В371.21 + В372 + К204.01
Предметные рубрики: Кристаллы-- Структура-- Методы исследования
Содержание : Исследование кристаллических поверхностей после пластической деформации и разрушения ; Электронная микроскопия на просвет тонких металлических пленок, приготовленных из массивных образцов ; Новейшие методы, позволяющие исследовать изменения структуры кристаллов при деформации на атомарном уровне ; Применение рентгеновских и нейтронографических дифракционных методов для исследования структуры деформированных кристаллов ; Возможности теоретического вычисления и экспериментального определения энергии дефектов упаковки косвенными методами ; Успехи современных методов исследования структуры деформированных кристаллов
Экземпляры : всего : КФ(2)
Свободны : КФ(2)
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)