Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>A=Лич, Ричард К.$<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж/Л 66
Автор(ы) : Лич, Ричард К.
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : пер. с англ.
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2012
Колич.характеристики :399 с
Перевод издания: Leach Richard K. Fundamental principles of engineering. -Amsterdam; Boston; Heidelberg, 2010
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-91559-119-5: 1210.00 р.
ГРНТИ : 90.03.03
ББК : Ж10
Предметные рубрики: Измерения-- Наношкала
Содержание : Введение в метрологию для микро- и нанотехнологий ; Основы метрологии ; Принципы разработки прецизионных средств измерений ; Прослеживаемость длины при помощи интерферометрии ; Измерения перемещений ; Средства измерений параметров рельефа поверхности ; Сканирующая зондовая, электронная и ионная микроскопия ; Характеризация рельефа поверхности ; Координатная метрология ; Измерения сил и масс
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)