Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
Регистрация
Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Базы данных
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска
Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный
информационный
краткий
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>A=Уманский, Яков Семенович$<.>)
Общее количество найденных документов
:
3
Показаны документы
с 1 по 3
1.
К2
Ф 50
Физические основы металловедения
/ Я. С.
Уманский
[и др.]. - М. : Металлургиздат, 1955. - 721 с. : рис., табл. - Загл. обл. : Физическое металловедение . - Библиогр.: с. 705-721. - 24.55 р.
ГРНТИ
53.49
ББК
К202я73 + В378я73
Рубрики:
Металловедение--Физические основы--Учебники и учебные пособия
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Уманский
,
Яков
Семенович
; Финкельштейн, Борис Николаевич; Блантер, Михаил Евсеевич; Кишкин, Сергей Тимофеевич
Экземпляры всего:
1
Музей (1)
Свободны:
Музей (1)}
Найти похожие
2.
К2
У 52
Уманский
,
Яков
Семенович
.
Рентгенография / Я. С.
Уманский
, А. К. Трапезников, А. И. Китайгородский. - М. : Машгиз, 1951. - 310 с. : ил. - 1.10 р.
ГРНТИ
29.19.19
53.49.19
ББК
К204.013 + Ж.с38 + К206.331
Рубрики:
Металлы--Рентгеноструктурный анализ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Трапезников, А. К.; Китайгородский, Александр Исаакович
Экземпляры всего:
1
Музей (1)
Свободны:
Музей (1)}
Найти похожие
3.
К2
У 52
Уманский
,
Яков
Семенович
.
Рентгенография металлов и полупроводников : учеб. пособие для вузов / Я. С.
Уманский
. - М. : Металлургия, 1969. - 496 с. : рис., фот. - Библиогр.: с. 473-478. - 10500 экз. - 1.33 р.
Содержание:
Физика рентгеновских лучей
Источники рентгеновских лучей и аппараты γ-дефектоскопии
Детекторы рентгеновских лучей
Структурный анализ, основные уравнения дифракции рентгеновских лучей от кристаллов и общая характеристика методов структурного анализа
Элементы рентгеноанализа монокристаллов
Методы рентгеноанализа поликристаллических веществ
Рентгеноанализ преимущественных ориентировок (текстур)
Рентгенографическое определение деформации решетки и размеров кристаллитов. Рентгеноанализ структурных изменений при нагреве деформированных кристаллических тел
Рентгеноанализ сплавов
Рентгеноанализ структурных изменений, вызываемых термической обработкой сплавов и воздействием ионизирующего излучения
Применение дифракции электронов и нейтронов для изучения структуры сплавов
Основные принципы рентгеноспектрального анализа
Радиационная дефектоскопия
Защита от воздействия рентгеновских и гамма-лучей
ГРНТИ
29.19.19
53.49.19
ББК
К204.013я73 + Ж.с38я73 + К206.331я73
Рубрики:
Металлы--Рентгеноструктурный анализ
Полупроводники--Рентгеноструктурный анализ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Экземпляры всего:
1
КФ (1)
Свободны:
КФ (1)}
Найти похожие
полный формат
краткий формат
все найденные
отмеченные
кроме отмеченных
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Другие библиотеки
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)