Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Труды сотрудников ИФ СО РАН (131)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Шестаков, Николай Петрович$<.>)
Общее количество найденных документов : 21
Показаны документы с 1 по 20
1.

Всесоюзная конференция по спектроскопии комбинационного рассеяния света(3; 1986 ; 30 сент. - 2 окт.; Душанбе).Тезисы докладов III Всесоюзной конференции по спектроскопии комбинационного рассеяния света/Акад. наук СССР, Науч. совет по проблеме "Спектроскопия атомов и мол.", Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского, Акад. наук ТаджССР, Физ.-техн. ин-т им. С.У. Умарова. Всесоюз. конф. по спектроскопии комб. расс. света. - 1986
2.

Иваненко А. А. Интерференционно-чувствительные фотоприемники и их применения/А. А. Иваненко ; науч. рук. В. Ф. Шабанов, Н. П. Шестаков ; офиц. опп. В. П. Кирьянов, А. В. Замков. - 2009
3.

Всесоюзная конференция по спектроскопии комбинационного рассеяния света/Акад. наук СССР, Науч. совет по проблеме "Спектроскопия атомов и молекул", Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского, Ужгород. гос. ун-т. Всесоюз. конф. по спектроскопии комб. расс. света Ч. 2. - 1989
4.

Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения/Науч.-технич. конф. с междунар. участием, Сиб. федер. ун-т, Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Краснояр. науч. центр, Ин-т физики им. Л.В. Киренского, Ин-т химии и хим. технологии, Ин-т вычислит. моделирования, Ин-т биофизики. - 2009
5.

Спектроскопические методы в анализе и исследовании свойств веществ в конденсированном состоянии/Акад. наук СССР [и др.]. - 1979
6.

Шестаков Н. П. Автоматизированные измерения интенсивностей и фаз слабых световых потоков/Н. П. Шестаков ; науч. рук. В. Ф. Шабанов ; офиц. опп.: Н. Я. Шапарев, А. В. Сорокин. - 1998
7.

Оптическая спектроскопия и стандарты частоты . Т. 3:Спектроскопия конденсированных сред. Лазеры и стандарты частоты/Б. Г. Агеев, С. Н. Андреев [и др.] ; рец.: В. Ф. Шабанов, О. Н. Компанец, В. Н. Черепанов. - 2009
8.

Физика низкоразмерных систем и поверхностей/Рос. акад. наук, Ин-т радиотехники и электроники , Юж. фед. ун-т, Кабардино-Балк. гос. ун-т. Международный междисциплинарный симпозиум "Физика низкоразмерных систем и поверхностей" (2 ; 3 - 8 сент. 2010 г. ; Ростов-на-Дону). - 2010
9.

Совещание по спектроскопии КР. Краевая конференция по комбинационному рассеянию света/Акад. наук СССР, Науч. совет по проблеме "Спектроскопия атомов и мол.", Сиб. отд-ние, Ин-т физики им. Л.В. Киренского, Краснояр. краев. правление Всесоюз. науч.-техн. о-ва радиотехники, электроники и связи им. А.С. Попова. - 1983
10.

Применение колебательных спектров к исследованию неорганических и координационных соединений/отв. за вып. А. Н. Втюрин. - 1987
11.

Всесоюзный съезд по спектроскопии(19; 1983; Томск).XIX Всесоюзный съезд по спектроскопии/Акад. наук СССР, Науч. совет по проблеме "Спектроскопия атомов и молекул", Сиб. отд-ние, Совет по спектроскопии СО АН СССР, Ин-т оптики атмосферы СО АН СССР Ч. 4: Спектроскопия твердого тела. - 1983
12.

Абсолютная интенсивность линий КР фононных спектров молекулярных кристаллов/А. Н. Ботвич [и др.]. - 1981
13.

Метод классификации линий колебательного спектра несоразмерных фаз по типам симметрии/А. Н. Втюрин [и др.]. - 1980
14.

Наумкин Н. С. Разработка оптических методов исследования структуры эпоксидного полимера/Н. С. Наумкин ; науч. рук. Н. П. Шестаков ; науч. конс. В. В. Слабко ; офиц. опп.: А. А. Лексиков, В. Б. Маркин. - 2013
15.

Электрооптические параметры и интенсивности линий КР фононных спектров молекулярных кристаллов/В. Ф. Шабанов [и др.]. - 1979
16.

Шабанов В. Ф. Рассеяние света на слоистых кристаллах с регулярным и случайным распределением толщин слоев/В. Ф. Шабанов, С. Я. Ветров, Н. П. Шестаков. - 1983
17.

Шестаков Н. П. Автоматизированная установка для измерения абсолютных сечений КР/Н. П. Шестаков, А. Н. Ботвич, И. С. Кабанов. - 1982
18.

Интерференционный профилограф/Н. П. Шестаков [и др.]. - 1986
19.

Метаматериалы и структурно организованные среды для оптоэлектроники, СВЧ-техники и нанофотоники/А. Ю. Авдеева ; отв. ред.: В. Ф. Шабанов, В. Я. Зырянов ; рец.: Г. Г. Матвиенко, В. В. Слабко, Н. Я. Шапарев. - 2013
20.

Локальное поле и оптические свойства молекулярных кристаллов/В. Ф. Шабанов [и др.]. - 1980
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)