Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Brandon, David G.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : Ж/Б 87
Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие : пер с англ.
Выходные данные : М.: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :377 с
Серия: Мир материалов и технологий
Перевод издания: Brandon, David G. Microstructural characterization of materials/ David G. Brandon, Wayne D. Kaplan. -Chichester; New York , 1999
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.
ISBN, Цена 5-94836-018-0: 145.00 р.
ГРНТИ : 81.09.03 + 29.19.22
ББК : Ж306в672я73
Предметные рубрики: Материалы-- Наноструктуры-- Методы исследования-- Учебники и учебные пособия
Содержание : Дифракционный анализ кристаллической структуры ; Оптическая микроскопия ; Электронная микроскопия ; Микроанализ в электронной микроскопии ; Химический анализ поверхности ; Количественный анализ микроструктуры
Экземпляры :КФ(1)
Свободны : КФ(1)
Найти похожие
2.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж3/B84
Автор(ы) : Brandon, David G., Kaplan, Wayne D.
Заглавие : Microstructural characterization of materials
Выходные данные : New York: John Wiley, 1999
Колич.характеристики :XIII с.: il.; 24 cm.; 409 с
Примечания : Index.: p. 403-409
ISBN, Цена 0-471-98502-3:
ГРНТИ : 29.19.04 + 29.31.26 + 81.09.03
ББК : Ж3 + В371.21
Предметные рубрики: Materials-- Microscopy
Microstructure
Твердое тело-- Микроструктуры-- Методы исследования
Экземпляры :КФ(1)
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley033/98046589.html,
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix03/98046589.html
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)