Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
Регистрация
Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Базы данных
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска
Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный
информационный
краткий
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>A=Brandon, David G.$<.>)
Общее количество найденных документов
:
2
Показаны документы
с 1 по 2
1.
Ж3
B84
Brandon
,
David
G.
.
Microstructural characterization of materials / D. G.
Brandon
, W. D. Kaplan. - New York : John Wiley, 1999. - XIII, 409 p. : il. ; 24 cm. - Index.: p. 403-409. -
ISBN
0-471-98502-3 : 1771.10 р.
ГРНТИ
29.19.04
29.31.26
81.09.03
ББК
Ж3 + В371.21
Рубрики:
Materials--Microscopy
Microstructure
Твердое тело--Микроструктуры--Методы исследования
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley033/98046589.html
,
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix03/98046589.html
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Kaplan, Wayne D.
Экземпляры всего:
1
КФ (1)
Свободных экз. нет
}
Найти похожие
2.
Ж
Б 87
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие : пер с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ. -
Пер. изд. :
Microstructural characterization of materials /
David
G.
Brandon
, Wayne D. Kaplan. - Chichester; New York , 1999. - 2000 экз. -
ISBN
5-94836-018-0 : 145.00 р.
Содержание:
Дифракционный анализ кристаллической структуры
Оптическая микроскопия
Электронная микроскопия
Микроанализ в электронной микроскопии
Химический анализ поверхности
Количественный анализ микроструктуры
ГРНТИ
81.09.03
29.19.22
ББК
Ж306в672я73
Рубрики:
Материалы--Наноструктуры--Методы исследования--Учебники и учебные пособия
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, Сергей Леонидович \ред. пер.\;
Brandon
,
David
G.; Kaplan, Wayne D.
Экземпляры всего:
1
КФ (1)
Свободны:
КФ (1)}
Найти похожие
полный формат
краткий формат
все найденные
отмеченные
кроме отмеченных
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Другие библиотеки
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)