Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
Регистрация
Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Базы данных
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска
Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный
информационный
краткий
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>A=Brandon, David G.$<.>)
Общее количество найденных документов
:
2
Показаны документы
с 1 по 2
1.
(Свободных экземпляров нет)
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
: Ж3/B84
Автор(ы)
:
Brandon
,
David
G., Kaplan, Wayne D.
Заглавие
: Microstructural characterization of materials
Выходные данные
: New York: John Wiley, 1999
Колич.характеристики
:XIII с.: il.; 24 cm.; 409 с
Примечания
: Index.: p. 403-409
ISBN, Цена
0-471-98502-3:
ГРНТИ
: 29.19.04 + 29.31.26 + 81.09.03
ББК
: Ж3 + В371.21
Предметные рубрики:
Materials-- Microscopy
Microstructure
Твердое тело-- Микроструктуры-- Методы исследования
Экземпляры
:КФ(1)
http://www.loc.gov/catdir/description/wiley033/98046589.html
,
http://www.loc.gov/catdir/toc/onix03/98046589.html
Найти похожие
2.
Вид документа
: Монографическая серия
Шифр издания
: Ж/Б 87
Автор(ы)
: Брандон Д., Каплан У.
Заглавие
: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие : пер с англ.
Выходные данные
: М.: Техносфера, 2006
Колич.характеристики
:377 с
Серия:
Мир материалов и технологий
Перевод издания:
Brandon
,
David
G. Microstructural characterization of materials/
David
G.
Brandon
, Wayne D. Kaplan. -Chichester; New York , 1999
Примечания
: Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.
ISBN, Цена
5-94836-018-0: 145.00 р.
ГРНТИ
: 81.09.03 + 29.19.22
ББК
: Ж306в672я73
Предметные рубрики:
Материалы-- Наноструктуры-- Методы исследования-- Учебники и учебные пособия
Содержание
: Дифракционный анализ кристаллической структуры ; Оптическая микроскопия ; Электронная микроскопия ; Микроанализ в электронной микроскопии ; Химический анализ поверхности ; Количественный анализ микроструктуры
Экземпляры
:КФ(1)
Свободны
: КФ(1)
Найти похожие
полный формат
краткий формат
все найденные
отмеченные
кроме отмеченных
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Другие библиотеки
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)