Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Lannoo, Michel$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Lannoo M. Point defects in semiconductors I/M. Lannoo, J. Bourgoin ; with foreword J. Friedel. - 1981
2.

Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках: экспериментальные аспекты/Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др. ; [пер.] под ред. В. Л. Гуревича. - 1985
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)